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酞菁铜薄膜二极管的封装模式研究

发布时间:2020-07-15 02:51
【摘要】:本文采用真空蒸镀和磁控溅射方法制备了垂直结构的有机薄膜二极管,制备的样品分别进行了PI封装、环氧树脂封装、薄膜与环氧树脂复合封装、薄膜与PI复合封装。对封装与未封装二极管的电气性能在一段时间内进行测试比较,探究该器件在室内环境中的电气性能稳定性和工作可靠性,解析封装的效果以及有机薄膜器件实用性需要解决的封装手段,以增加其实际应用的可能性。实验结果表明,未封装与封装的二极管初始性能相近,但随着时间的推移,未封装器件趋近于绝缘,因为导电的金属Al电极被氧化成不导电的氧化铝,通过该器件的电流十分小。PI封装虽然对有机器件存在保护作用,但封装过程中器件性能会受到影响,大幅度下降。环氧树脂封装的器件性能的测试结果表明,这种方法在封装时对器件有很大的影响,可以在一定时间内起到保护作用,器件的整流特性最终会被环氧树脂材料完全破坏,导致二极管虽然未受环境影响,却变为电阻器件。薄膜与环氧树脂复合封装的器件性能依然有所衰退,但这种方法封装的器件受环氧树脂影响较小,可以看出薄膜封装在已固化的环氧树脂和器件之间可以起到一定的阻隔作用,但不能完全消除环氧树脂对器件的影响。薄膜与PI复合封装方法对于器件有很强的保护作用,器件在封装过程中几乎不会受到影响,同时PI薄膜也能起到对器件的保护作用。器件的阈值电压上升较慢,从0.28V变为0.4V,斜率为1.65×10~(-2),输出电阻趋于稳定,为1.1×10~4?,电导率下降为2.4×10~(-8)S/cm,但下降趋势不断减缓。湿度较高的条件下对器件进行测试,未封装器件在高湿度时无法正常工作,但在测试后会有一定的性能恢复,但湿度测试对器件影响较大,会加速环境对器件的破坏。薄膜与PI复合封装的二极管仍能良好运行,且各项性能与在正常环境中变化不大,器件受湿度影响很小。
【学位授予单位】:哈尔滨理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN321.5
【图文】:

有机二极管


哈尔滨理工大学工学硕士学位论文解决器件在传统玻璃或金属后盖式封装时遇到的后盖质量过形的问题,并且用 PI 材料封装的方法成本低、封装效果更好I 封装得到垂直结构有机薄膜器件的 PI 封装方法中,需将与玻璃基 薄膜覆盖于器件制备完成的玻璃基板上,在 PI 薄膜与玻璃衬用环氧树脂连接密封,防止空气以及其他微小粒子接触器件光固化 1 小时,此时环氧树脂由液态变为固态,不再具有流器件结构如图 3-5 所示。

有机二极管,酞菁铜薄膜,薄膜器件


图 3-8 酞菁铜薄膜与 PI 复合封装的有机二极管Fig.3-8 Organic diode encapsulated by CuPc and PI films机薄膜器件的测试试电路中制备的垂直结构有机薄膜二极管的金属 Cu 电极为阳极,A测试电路及等效电路分别如图 3-9 a)和 b)所示。AlCuPcCu

二极管,测试电路,酞菁铜薄膜,有机薄膜器件


图 3-8 酞菁铜薄膜与 PFig.3-8 Organic diode encap3.3 有机薄膜器件的测试3.3.1 测试电路本文中制备的垂直结构有机薄膜二阴极,其测试电路及等效电路分别如图

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本文编号:2755866

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