基于聚合物混合体系的薄膜晶体管及其气敏特性的研究
【学位授予单位】:电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2019
【分类号】:TN321.5
【图文】:
薄膜晶体管及其气体传感器不断深入,已经形成了一套从其器一步地,在气体传感器的研究中,本参数指标已经确立,同时敏感材从上述各个方面对 OTFT 及其气体的器件结构端器件,OTFT 的基本结构可以看iconductor, MIS)结构衍生而来。如层与金属层(栅极)之间,构成了层的费米能级,使半导体层中的能层的界面处载流子累积或耗尽,最
(c) (d) 四种 OTFT 基本结构的示意图 (a) 顶栅底接触;(b) 顶栅顶接触;(c) 接触;(d) 底栅顶接触(Gate、Source、Drain 为栅、源、漏电极,Die为介电层,Organic Semiconductor 为有机半导体层,Substrate 为衬底)注意的是,OTFT 的器件结构有可能对器件性能产生显著的影栅结构,顶栅型器件具有如下优点:(1)栅电极与源、漏电极的打印工艺制备;(2)由于栅电极与介电层都沉积在半导体层产生了“自封装”的效果,可以有效地减缓器件工作时环境变的影响,提升了器件的工作稳定性。另一方面,如果考虑制备坏下方的有机半导体层,则底栅型器件更为适用。此外,就金件采用共面式(coplanar)结构,即源、漏电极与沟道位于半导的接触电阻更大,因此采用交错式(staggered)结构,即源、漏半导体层两侧更佳[83]。因此,在实际应用中应根据具体的参数件结构。
工作时的电流电压关系分为两种,输出特性、转移源漏电压和栅极电压的变化。器件的工作模式可以道(gradual channel)”理论模型来近似分析,由于远小于垂直方向的电场,即需要长沟道器件,常见微米至数十微米,符合长沟道条件。该模型中,随压输出特性经历从线性区(linear regime)逐渐到饱,如图 2-3(a)所示。其中,线性区是指 VDS远小于于电阻,电流随着 VDS增长而线性增加;当 VDS达一个高阻区不断耗尽载流子,使得沟道呈夹断(pi着 VDS的增长而增加,趋于饱和值,即进入饱和区G的关系,则会得到如图 2-3(b)所示的转移特性曲线重要参数,包括:阈值电压(threshold voltage, VT)obility, )、开态电流(on current, Ion)、关态电流(f ratio, Ion/Ioff)、开启电压(Von)、亚阈值摆幅( swing, SS)。
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