多次随机变换拆分测试激励压缩方法研究
发布时间:2020-09-01 09:20
集成电路作为时代的高科技产物而日新月异,它的规模和复杂度与日俱增,直接导致其电路故障数目越来越多。为了确保测试时具有达标的故障覆盖率,测试数据量也会成倍增加,巨大的测试数据量不但要增大存储空间,还增加了测试应用时间。减少测试数据量、降低测试应用时间的有效办法便是压缩测试数据。本文对测试数据压缩的方法进行研究,在变换拆分方法的基础上,主要做了以下几个方面的工作:(1)用随机矩阵对测试集进行拆分变换。此方法将原始测试集分解为主分量集和残差集,主分量集由线性反馈移位寄存器产生的矩阵中选出的最合适部分组成,残差集由测试仪传入的数据经解压后得到。实施测试时,测试集是通过主分量集和残差集异或得到,最终被施加到被测电路上。该方法对残差集编码压缩,主分量集的产生需要些许硬件代价。相比直接对测试集编码压缩,该方法能够显著的增加编码压缩的压缩率,并且硬件开销也是可接受的。采用FDR编码,实验结果显示,向量分解压缩方法的平均压缩率可以达到75.33%。(2)用多轮位翻转提高压缩率。此方法基本思想是在不影响测试集故障覆盖率的条件下通过翻转测试集中的若干确定位使得测试数据具有更高的压缩效益。具体做法是利用方法(1)得到的主分量集代替原始测试集进行故障模拟,主分量集会检测出一部分故障,原测试集则只需要检测出剩余不能检测的故障即可。这样可以将原测试集中大量的确定位翻转成非确定位X得到新的测试集,接着对新的测试集用向量分解的压缩方法进行压缩。理论上该方法可以对测试集做多轮翻转,但是向量分解过程中选取的主分量集在硬件存储时会产生相应的代价。当进行第二轮翻转时提升的压缩率已经低于代价,故只进行一轮翻转。采用FDDR编码,实验结果显示,位翻转压缩方法的平均压缩率可以达到81.97%。(3)用位反转进一步提高压缩率。此方法基本思想是对测试集中的若干确定位进行反转,但是反转的前提是不影响测试集的故障覆盖率,反转后的测试数据具有更高的压缩效益。测试集往往包含许多无关位和少量确定位,且测试集的故障检测能力会随着无关位的填充而增强,因此便会大量存在故障检测冗余的情况,此时测试集能够改变很多确定位的值且不降低测试集的故障检测能力。为了说明这种方法的有效性,我们提出了一种优化的位反转算法。采用FDR编码,实验结果显示,位反转压缩方法能使压缩率在方法(2)的基础上提高2.3%左右,达到84.13%。
【学位单位】:湖南大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2018
【中图分类】:TN407
【部分图文】:
^—反变^—反量化^逦解码逡逑图1.2变换编码通用模型逡逑图1.2给出了变换编码的通用模型[4],编码时采用变换的手段把原始数据集映逡逑射到另一个容易“压缩”的数据域,传输到解码端先进行解码,然后反变换回最初逡逑的数据域,恢复信号数据。在语音压缩领域通常使用小波变换;图像压缩领域一逡逑般采用DCT邋(离散余弦变换)、DFT(离散傅里叶变换)、WHT邋(Walsh-Hadamard逡逑变换)、HrT(哈尔变换)、K-L变换,其中离散余弦变换最常用且变换得到的压缩逡逑率最高,但考虑到硬件代价,WHT变换的综合效果较好。逡逑文献[5]提出将变换编码应用到测试数据压缩领域。多媒体领域的数据压缩通逡逑常仅保存能量较为集中的部分,对噪声部分直接丢弃。然而在测试数据压缩领域,逡逑为保证测试集原有的故障覆盖率保持不变,通常对能量弱的部分编码压缩存储。逡逑这样就构成了测试集变换拆分新方法[5]的核心思想。逡逑基于测试集变换拆分的新方法,不同于传统的测试激励压缩技术。该方法将逡逑测试集拆分成主分量集和残分量集(也叫残差集)
成电路规模的不断扩大,导致复杂度日益增加以及集成的晶体管数目越晶体管数目的X椉釉蚴共馐允萘砍杀对龀ぃ薮蟮牟馐允萘坎坏鲥义峡占洌固岣吡瞬馐杂τ檬奔洹=档筒馐杂τ檬奔浜图跎俅娲⒖占涞挠行у义鲜遣馐允菅顾酢2馐允菅顾醢ú馐约だ顾鹾筒馐韵煊ρ顾酰菊洛义仙懿馐约だ顾醴椒āe义贤车牟馐约だ顾醴椒ㄖ饕殖扇啵郏叮荩哄澹ǎ保┗诒嗦氲难顾醴椒ǎǎ玻╁义闲越庋沟难顾醴椒ǎǎ常┗诠悴ド璧难顾醴椒āN南祝郏担萏岢隽吮冉闲洛义纤醴椒ǎ貌馐约浠徊鸱掷刺岣弑嗦胙顾醯难顾趼省=岷媳疚氖导恃绣义先荩菊率紫冉彩霾馐缘南喙鼗「拍睿缓笾饕彩鏊婊馐浴⒈嗦胙瑰义稀⒘街址茄顾跹顾醴椒ê鸵恢植鸱植馐约男路椒āe义鲜韵喙馗拍铄义喜馐栽礤义鲜淙爰だ问涑鱿煊﹀义
本文编号:2809558
【学位单位】:湖南大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2018
【中图分类】:TN407
【部分图文】:
^—反变^—反量化^逦解码逡逑图1.2变换编码通用模型逡逑图1.2给出了变换编码的通用模型[4],编码时采用变换的手段把原始数据集映逡逑射到另一个容易“压缩”的数据域,传输到解码端先进行解码,然后反变换回最初逡逑的数据域,恢复信号数据。在语音压缩领域通常使用小波变换;图像压缩领域一逡逑般采用DCT邋(离散余弦变换)、DFT(离散傅里叶变换)、WHT邋(Walsh-Hadamard逡逑变换)、HrT(哈尔变换)、K-L变换,其中离散余弦变换最常用且变换得到的压缩逡逑率最高,但考虑到硬件代价,WHT变换的综合效果较好。逡逑文献[5]提出将变换编码应用到测试数据压缩领域。多媒体领域的数据压缩通逡逑常仅保存能量较为集中的部分,对噪声部分直接丢弃。然而在测试数据压缩领域,逡逑为保证测试集原有的故障覆盖率保持不变,通常对能量弱的部分编码压缩存储。逡逑这样就构成了测试集变换拆分新方法[5]的核心思想。逡逑基于测试集变换拆分的新方法,不同于传统的测试激励压缩技术。该方法将逡逑测试集拆分成主分量集和残分量集(也叫残差集)
成电路规模的不断扩大,导致复杂度日益增加以及集成的晶体管数目越晶体管数目的X椉釉蚴共馐允萘砍杀对龀ぃ薮蟮牟馐允萘坎坏鲥义峡占洌固岣吡瞬馐杂τ檬奔洹=档筒馐杂τ檬奔浜图跎俅娲⒖占涞挠行у义鲜遣馐允菅顾酢2馐允菅顾醢ú馐约だ顾鹾筒馐韵煊ρ顾酰菊洛义仙懿馐约だ顾醴椒āe义贤车牟馐约だ顾醴椒ㄖ饕殖扇啵郏叮荩哄澹ǎ保┗诒嗦氲难顾醴椒ǎǎ玻╁义闲越庋沟难顾醴椒ǎǎ常┗诠悴ド璧难顾醴椒āN南祝郏担萏岢隽吮冉闲洛义纤醴椒ǎ貌馐约浠徊鸱掷刺岣弑嗦胙顾醯难顾趼省=岷媳疚氖导恃绣义先荩菊率紫冉彩霾馐缘南喙鼗「拍睿缓笾饕彩鏊婊馐浴⒈嗦胙瑰义稀⒘街址茄顾跹顾醴椒ê鸵恢植鸱植馐约男路椒āe义鲜韵喙馗拍铄义喜馐栽礤义鲜淙爰だ问涑鱿煊﹀义
本文编号:2809558
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2809558.html