高速数字电路电源噪声引发的时序抖动分析
【学位单位】:西安电子科技大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2019
【中图分类】:TN79;TN86;TB53
【部分图文】:
[45]。图2.5 封装电容对系统 PDN 阻抗明显的改善[45]由于体电容器和表面贴电容器或者者封装级的去耦电容都需要走线连接在一起,这些走线都会有寄生的电阻和电感,加上这些电容的等效 ESR,这些会造成 PDN 的DC IR 压降,此外,由于板级电源和地平面的存在,在一些情况下,由电源和地平面形成的电磁谐振腔可能引起一些严重的问题。在它们的共振频率下,电磁谐振腔引起的电源噪声是电路板和封装中的主要噪声源。3)芯片上电源分配网络芯片上 PDN 负责高频的电源噪声,高性能 IC 中的 PDN 通常构造为多层网格。在这样的网格中,每个金属化层中的直的电源/地线可以跨越整个芯片并且与相邻层中的线正交。电源线和地线通常在每层中交替。通孔将电源(地)线连接到另一个电源(地)在重叠站点。芯片上 PDN 基本结构类型有绕线型网格
西安电子科技大学硕士学位论文28图3.6 理想和非理想 PDN 情况下的眼图对比[67]由于电源噪声引起的幅度和抖动噪声,在考虑了 PDN 情况下的眼要要小得多。在相同的 BER 水平下,眼高从 396ps 变为 377ps,眼高变为 448mV 至 423mV,如图3.6 所示。PDN 引起的噪声幅度和抖动噪声的校正因子可以通过这两个值之间的差来计算,这导致幅度校正因子为 25mV,抖动校正因子为 19ps。如表 3.1 所示。表3.1校正因子数值噪声幅度校正因子 电源噪声引起的抖动校正25mV 19ps提取眼图校正因子方法的一个突出优势是能够分离电源噪声对抖动贡献,改善了统计仿真得到的抖动忽略了电源噪声的贡献问题。这在实际中是很重要的
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本文编号:2814677
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