光纤磁光器件研究
【学位单位】:重庆大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2016
【中图分类】:TP212;TN715
【部分图文】:
图 1.1 磁场测量技术的应用Fig.1.1 The application of magnetic field measurement technology场测量方法测量技术是研究与磁有关的物理现象的重要手段之一,已逐科学。磁场测量包括磁参数和磁性材料特性的测量,其中磁强度和磁通的测量,而磁性测量指的是材料试样的测试,用性参数。场测量的方法一般可分为磁-力法、电磁感应法、磁通门法、电法、磁共振法、超导效应法和磁光效应法等。弱磁场测量技相互依赖又相互促进,不同场合所具有的特点使其对磁场探相同。在多种磁场测量方法中,磁-力法主要作用于地震预报磁暴观测以及检测岩石样品的磁性等方面;电磁感应法主要场,其分辨率可达 10-9T;磁通门法的应用领域可涉及到磁场、工程检测、载体方位姿态测量与控制等许多方面,并在大
随着微加工等技术的日益发展,这种干涉仪式传感器系统具有很强的通用性,因此具有广阔的应用前景。图2.1 光纤Mach-Zehnder干涉仪结构示意图Fig.2.1 The schematic diagram of optical fiber Mach-Zehnder interferometer structureMach-Zehnder干涉结构是1892年马赫(L. Mach)和曾德尔(Zehnder)提出的通过半透半反镜对光源分光进入不同的光路后再汇合干涉的干涉结构,而传统光纤Mach-Zehnder干涉仪是将这种干涉结构光纤化后所得,如图2.1所示。光源发出的光经耦合器C1分为两束光分别进入信号臂光纤L1和参考臂光纤L2,两束光经耦合器C2汇合相干形成干涉条纹。光纤Mach-Zehnder干涉仪不带有纤端反射镜,克服了光纤Michelson干涉仪回波干扰的缺点,因而在光纤传感领域得到了更广泛的应用。光纤Mach-Zehnder干涉仪的输出端光强I 可表示为1 2 1 2I I I 2 I I cos( )(2.1) 1 1 2 22 n L n L (2.2)其中,1I 、2I 分别为信号臂和参考臂中的光强度, 是两干涉臂的相位差
1 1 2 2a ba bn L n L 21 1 2 2n L n L 和b 远大于 ,公式可化简为(2.4)。当工作波长 为定值时 1 1 2 2n L n L,最终干涉仪的功率谱发生平移,故可根据干涉谱的光谱变化的外界物理量。磁流体折射率的可调谐性绪论部分可知,磁场测量是光纤传感器的一个重要应用。为了使光纤传感器上,一些具有磁控特性的特殊功能材料(如纳米磁流该类传感器是将磁性材料对磁场变化的响应转化为光纤光学参数光参数的变化解调出外磁场强度的变化。对磁流体的探索可以追1963 年美国 Paperll 获得了第一个磁流体制备专利并于美国登月密封中成功应用。
【参考文献】
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本文编号:2815997
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