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IGCT开通与关断电路的设计和验证

发布时间:2020-09-19 20:38
   集成门极换流晶闸管(IGCT)是由门极换流晶闸管(GCT)与其门极驱动单元通过印刷电路板(PCB)集成在一起,构成的一种新型大功率半导体器件。IGCT既有比GTO更低的损耗,又有比IGBT更强的过流能力,有广泛的应用领域。GCT工作时必须借助于门极驱动器,门极驱动器中开通和关断电路是实现“硬驱动”的关键。本文以4000A/4500V的IGCT驱动器为研究对象,设计了其门极开通和关断电路,并进行了实验验证。主要内容如下:首先,介绍了 IGCT结构、工作机理、门极驱动器的组成及其驱动波形,并在此基础上提出了 IGCT开通与关断与电路的设计指标。其次,根据指标设计了 IGCT的开通和关断电路,阐述了 IGCT开通、关断电路的原理,分析了元器件参数选型。采用Cadence16.5软件对所设计的开通和关断电路进行仿真,开通、关断电路分别用二极管和IGCT电路模型代替IGCT门阴极,进行仿真分析、对比。采用Verilog语言编写开通、关断电路时序,实现其中功率MOSFET的通断控制。最后,分析了 IGCT门极回路杂散电感对“硬驱动”的影响,以及影响PCB杂散电感的因素。采用Altium Designer 15软件对IGCT开通和关断电路PCB进行合理的布局,对比分析了关断电路采用通用型和环绕型两种布局对PCB杂散电感的影响。搭建了试验电路,采用二极管负载对开通、关断电路进行验证。本文的研究成果对IGCT驱动器的设计与开发具有一定的参考价值。
【学位单位】:西安理工大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2018
【中图分类】:TN34
【部分图文】:

温度分布,封装结构,公司,杂散电感


元器件的可靠性都有很大的影响。IGCT 门极驱动 PCB 上的杂散电感是影响门极“硬驱动”的主要因素。为了减小门极回路的杂散电感实现 GCT“硬驱动”,对 PCB的合理布局是十分重要的。而国内外 IGCT 研究的重点一直集中在 GCT 的芯片设计,对IGCT 门极驱动器中开通、关断电路及其 PCB 的杂散电感研究相对较少,随着对 GCT 管芯电压电流等级的提高,对 IGCT 驱动要求也越来越高,所以这部分的研究是十分必要的。1.2 国内外研究进展1.2.1 国外研究进展ABB 是目前 IGCT 的主要生产公司,从 1997 年至今已成功的研发出了非对称型,逆导型,逆阻型三种 GCT 器件,集成门极换流晶闸管 IGCT 如图 1-1 所示,主要有两种结构环绕性和通用型均已广泛的投入市场中。环绕型如图 1-1(a)所示,GCT 器件被门极驱动电路环绕,这种结构的 IGCT 体积小,长宽约为 22cm 和 20cm,结构紧凑,坚固性和稳定性好,可承受大的机械应力,且温度分布均匀。通用型的结构如图 1-1(b)所示,长宽约为 43cm和 15cm,这种结构 GCT 与门极驱动电路的距离大约为 15cm,具有使用更加灵活方便的特点但是温度相对集中,抗机械应力差[9]。

关断,管壳,剖面图,结构图


1 绪论要来自开关过程,将关断单元集成于管壳内不利于施加散热装置,造成管壳内温度芯片烧毁,可靠性降低。其次管壳也是影响杂散电感的主要因素,关断电路的电容积大,集成于管壳内造成管壳体积增大,相应杂散增加。再者相对于将整个电路集块 PCB 板上而言这种通过电缆线连接的结构使得 IGCT 的串并联变得复杂。因此压 IGCT 只适用于小电流的 GCT 芯片。

实物,管壳


1 绪论要来自开关过程,将关断单元集成于管壳内不利于施加散热装置,造成管壳内温度芯片烧毁,可靠性降低。其次管壳也是影响杂散电感的主要因素,关断电路的电容积大,集成于管壳内造成管壳体积增大,相应杂散增加。再者相对于将整个电路集块 PCB 板上而言这种通过电缆线连接的结构使得 IGCT 的串并联变得复杂。因此压 IGCT 只适用于小电流的 GCT 芯片。

【参考文献】

相关期刊论文 前10条

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本文编号:2822969

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