微弱光信号高精度采样研究
【学位单位】:北京邮电大学
【学位级别】:硕士
【学位年份】:2019
【中图分类】:TN911.23;TN79
【部分图文】:
率一定的条件下,量化位数的增加,后端的数据接收压力会加大。所以在目前的??ADC芯片主流产品中,量化位数一般只有lObits左右,如果真的需要高量化位??数会采用芯片级联的方式。如图1-1所示,在高精度采样中,过采样和高分辨率??的要求最终推论得出两者相互矛盾。??针对这一问题,一般会通过使用时间交替采样(Time-interleaved)技术的方??法来处理。这种技术是在1980年,由美国人布莱克和霍奇斯提出,创造性地利??用多片ADC构成并行采样系统,每个ADC通道同时对同一个模拟信号进行??采样,这样可以实现整个采样系统的采样频率通过每片ADC的采样频率进行叠??力口,达到成倍地提高系统采样率的目的[7]。目前市场上的大部分示波器生产商家??都采用这种方法来实现高精度采样显示。但是,这种方法首先带来的是成本问题,??多片ADC芯片级联会带来研究成本的提高,在高校中一般课题组负担不起。其??次
ifk?■?? ̄f?S?-fs?0?fs?f's?f??图2-5理想低通滤波器与实际滤波器的差别??2.1.4?ADC芯片的采样工作原理??ADC芯片是整个采样模块的核心元器件,其工作过程主要是先对输入的模??拟信号x(t)进行采样,并保持采样值x'(t),然后通过量化环节把采样保持值x'(t)??转化成对应的量化值x(nr),最后按照一定的格式进行编码,得到数字信号x(n)。??这也就是我们平时在通信中提及的采样,量化和编码三大环节。??A?nx?jfl??—I?\?^?Jill??x(t)? ̄ ̄?xf(t)?x(nT)\?x(n)??—^采样?一^-?量化?一^?编码?■?*??图2-6?ADC芯片的采样工作原理??其中,采样环节是对输入的模拟信号进行数据点的选取。一般条件下,如果??采样的频率越高,取样点的间隔就会越来越小,即可以得到更加密集的信号信息,??后面的数据处理环节也能得到更完整的恢复出原始信号信息。采样环节是在时间??域上对模拟信号进行离散化,量化环节可以理解成是在取值域上对取样点序列进??行离散化。在时间域上对信号进行离散化
?x(n)??—^采样?一^-?量化?一^?编码?■?*??图2-6?ADC芯片的采样工作原理??其中,采样环节是对输入的模拟信号进行数据点的选取。一般条件下,如果??采样的频率越高,取样点的间隔就会越来越小,即可以得到更加密集的信号信息,??后面的数据处理环节也能得到更完整的恢复出原始信号信息。采样环节是在时间??域上对模拟信号进行离散化,量化环节可以理解成是在取值域上对取样点序列进??行离散化。在时间域上对信号进行离散化,不会引入失真,因为各个采样值还是??连续变量。一般而言,量化位数越高,可以对取样序列进行更细致的标定,即是??信号的分辨率也就越高。但量化环节是对输入取样点电平值的离散化处理,因为??量化的精度有限,不能百分之百标定序列值。这一环节上肯定会产生量化误差,??导致信号失真。目前针对连续信源的量化方式主要有一维量化和多个采样值联合??量化的矢量量化两种方式
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本文编号:2888761
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