集成电路测试系统显控软件设计与实现
发布时间：2020-12-19 12:10
在集成电路测试系统中软件分为显控软件与驱动软件。其中显控软件主要实现两个功能:一是提供人机交互界面,用于完成测试程序开发,即设置测试参数、测试项目、测试流程;二是控制驱动模块实现对芯片的测试,并获取测试结果。而如今国内对于显控软件的研究较少,同时存在一定问题。首先,现有国内软件提供的可设置参数类型及数量都较少,且在多个测试项中存在重复设置的参数;其次,整体软件模块化程度不高,灵活性较低;另外图形界面不具备辅助测试开发功能,导致参数设置操作繁琐。为解决上述问题,本文选用Python作为编程语言,Qt作为界面开发工具,针对大规模数字集成电路实现界面友好、功能完备的人机交互界面。最终本界面可设置引脚数最多达1024个,边沿集为256个;并依据集成电路测试仪的现有硬件指标完成控制模块,实现对中小型数字集成电路的测试。本文的主要研究内容如下:1.针对人机交互界面可设置参数类型较少和参数重复的问题,本文从功能与人机交互两方面进行彻底的需求分析,对测试参数进行总结以及分类。通过对测试参数的整理,提取出通用测试参数与特殊测试参数,并采用抽象数据类型的方式完成对各类参数的描述;2.针对软件模块化程度不高...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：109 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
IG-XL测试软件界面图
图 1-2 数字集成电路测试系统软件界面综上所述，目前我国市场上已经存在一定的中小型规模的数字集成电路测试系统测试软件。但总的来讲，现有测试系统基本针对中小型数字集成电路，可设置的引脚数较少，测试向量存储深度不高，最高测试频率也较低。而对于测试软件来讲，总体通用性不高，可设置的参数较少，并且辅助测试开发功能并不完善。另外在不同测试项中设置过程存在重复操作，增大内存开销，并且界面不够友好。从软件设计的角度来说，测试软件普遍存在测试向量与测试参数交织的问题，整体软件耦合性过高，可测性与可维护性较低。总之，我国在集成电路测试系统软件的研究上仍然落后于国际先进水平，总体研究情况仍亟待提升[28]。1.3 论文主要内容及章节安排本文主要研究集成电路测试系统显控软件的设计与实现。显控软件用于设置器件测试的必要信息，并完成自动对器件的各项测试。首先完成对测试所需各类参数的设定，以及对测试流程的设置，其次通过调用驱动单元来实现对硬件模块
选题背景与依据之后，首先介绍集成电路测试系统的的基本原理。另外，完成对测试系统整体软件以及显测试系统显控软件总体方案设计。测试系统与测试原理介绍测试系统分为测试仪和测试软件，二者配套使用。本针对中小型数字集成电路，而显控软件则分为两个部测试开发的人机交互界面，以及依据测试仪的现有硬集成电路的测试。在正式阐述测试系统显控软件方案集成电路测试仪的组成，并且为更好的进行软件需求成电路测试的原理。路测试仪介绍的集成电路测试仪，目前主要提供对数字集成电路的块板卡构成。其结构图如下图 2-1 所示：
【参考文献】：
期刊论文
[1]基于Python语言的自动测试系统通用软件平台实现[J]. 周阳明. 电子设计工程. 2019(05)
[2]高性能ADC芯片测试技术研究[J]. 王华. 中国集成电路. 2018(06)
[3]一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法[J]. 谈恩民,范玉祥. 计算机科学. 2018(02)
[4]ATE系统在卫星导航射频芯片测试技术中的应用[J]. 叶鑫,戴志春,伍俊,曹马健,张勇虎. 数字技术与应用. 2018(01)
[5]集成电路测试技术的应用研究[J]. 宋铁生. 电子测试. 2017(16)
[6]基于PXI的集成电路测试机的设计研究[J]. 黄瑞,赵春莲. 集成电路应用. 2017(08)
[7]大规模复杂系统的开放式软件架构研究[J]. 尹伟,缪万胜,王念伟,洪沛. 航空电子技术. 2017(02)
[8]基于Qt和Flash的嵌入式Linux软件架构设计[J]. 王晓燕,刘军霞,杨先文. 现代电子技术. 2017(01)
[9]集成电路测试技术的应用研究[J]. 刘炜. 通讯世界. 2015(16)
[10]ATE软件系统研究与设计[J]. 段红义. 计算机测量与控制. 2015(02)
硕士论文
[1]信息化体系结构ATE软件平台开发[D]. 崔翘楚.哈尔滨工业大学 2015
[2]基于冗余共享的嵌入式SRAM的内建自测试修复及失效分析[D]. 庞理.西安电子科技大学 2015
[3]高精度多通道逐次逼近型模数转换器测试与修调[D]. 李涛.电子科技大学 2014
[4]基于ATE的百万门级FPGA测试方法的研究[D]. 王世颖.电子科技大学 2012
[5]数字IC测试仪的研究与设计[D]. 仲伟杨.南京理工大学 2012
[6]数字集成电路测试系统软件设计[D]. 温晓佩.电子科技大学 2011
[7]数字集成电路自动测试硬件技术研究[D]. 陈明亮.电子科技大学 2010
[8]ATE软件测试方法研究及实现[D]. 伍利.电子科技大学 2004
本文编号：2925882
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：109 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
IG-XL测试软件界面图
图 1-2 数字集成电路测试系统软件界面综上所述，目前我国市场上已经存在一定的中小型规模的数字集成电路测试系统测试软件。但总的来讲，现有测试系统基本针对中小型数字集成电路，可设置的引脚数较少，测试向量存储深度不高，最高测试频率也较低。而对于测试软件来讲，总体通用性不高，可设置的参数较少，并且辅助测试开发功能并不完善。另外在不同测试项中设置过程存在重复操作，增大内存开销，并且界面不够友好。从软件设计的角度来说，测试软件普遍存在测试向量与测试参数交织的问题，整体软件耦合性过高，可测性与可维护性较低。总之，我国在集成电路测试系统软件的研究上仍然落后于国际先进水平，总体研究情况仍亟待提升[28]。1.3 论文主要内容及章节安排本文主要研究集成电路测试系统显控软件的设计与实现。显控软件用于设置器件测试的必要信息，并完成自动对器件的各项测试。首先完成对测试所需各类参数的设定，以及对测试流程的设置，其次通过调用驱动单元来实现对硬件模块
选题背景与依据之后，首先介绍集成电路测试系统的的基本原理。另外，完成对测试系统整体软件以及显测试系统显控软件总体方案设计。测试系统与测试原理介绍测试系统分为测试仪和测试软件，二者配套使用。本针对中小型数字集成电路，而显控软件则分为两个部测试开发的人机交互界面，以及依据测试仪的现有硬集成电路的测试。在正式阐述测试系统显控软件方案集成电路测试仪的组成，并且为更好的进行软件需求成电路测试的原理。路测试仪介绍的集成电路测试仪，目前主要提供对数字集成电路的块板卡构成。其结构图如下图 2-1 所示：
【参考文献】：
期刊论文
[1]基于Python语言的自动测试系统通用软件平台实现[J]. 周阳明. 电子设计工程. 2019(05)
[2]高性能ADC芯片测试技术研究[J]. 王华. 中国集成电路. 2018(06)
[3]一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法[J]. 谈恩民,范玉祥. 计算机科学. 2018(02)
[4]ATE系统在卫星导航射频芯片测试技术中的应用[J]. 叶鑫,戴志春,伍俊,曹马健,张勇虎. 数字技术与应用. 2018(01)
[5]集成电路测试技术的应用研究[J]. 宋铁生. 电子测试. 2017(16)
[6]基于PXI的集成电路测试机的设计研究[J]. 黄瑞,赵春莲. 集成电路应用. 2017(08)
[7]大规模复杂系统的开放式软件架构研究[J]. 尹伟,缪万胜,王念伟,洪沛. 航空电子技术. 2017(02)
[8]基于Qt和Flash的嵌入式Linux软件架构设计[J]. 王晓燕,刘军霞,杨先文. 现代电子技术. 2017(01)
[9]集成电路测试技术的应用研究[J]. 刘炜. 通讯世界. 2015(16)
[10]ATE软件系统研究与设计[J]. 段红义. 计算机测量与控制. 2015(02)
硕士论文
[1]信息化体系结构ATE软件平台开发[D]. 崔翘楚.哈尔滨工业大学 2015
[2]基于冗余共享的嵌入式SRAM的内建自测试修复及失效分析[D]. 庞理.西安电子科技大学 2015
[3]高精度多通道逐次逼近型模数转换器测试与修调[D]. 李涛.电子科技大学 2014
[4]基于ATE的百万门级FPGA测试方法的研究[D]. 王世颖.电子科技大学 2012
[5]数字IC测试仪的研究与设计[D]. 仲伟杨.南京理工大学 2012
[6]数字集成电路测试系统软件设计[D]. 温晓佩.电子科技大学 2011
[7]数字集成电路自动测试硬件技术研究[D]. 陈明亮.电子科技大学 2010
[8]ATE软件测试方法研究及实现[D]. 伍利.电子科技大学 2004
本文编号：2925882
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