TSVs串扰故障分组测试和诊断策略

发布时间：2020-12-22 04:38

　　TSVs串扰故障的测试和诊断对提高集成电路成品率有重要影响。为了减少TSVs测试和诊断时间,并且减少测试电路的面积开销,提出在信号接收端重用扫描单元的测试架构对TSVs串扰故障进行分组测试和诊断的新方案.该方案首先使用提出的TSVs分组算法,根据TSVs之间串扰影响距离,应用邻接矩阵求极大独立集对TSVs进行快速分组,使得每组内的TSVs不会发生串扰故障,并且最大化同组中TSVs的数量.分组完成后,使用提出的测试架构对同组内的TSVs进行并行测试,并且根据TSVs的测试响应,可以进一步诊断故障TSVs.实验结果表明,所提测试方案有效地减少了测试和诊断时间,并且减少了面积开销. 

【文章来源】：微电子学与计算机. 2020年02期 北大核心

【文章页数】：7 页

【部分图文】：

攻击TSVs和受害TSVs模型

下面以图3为例,阐述图2中分组算法在规则TSVs分布和不规则TSVs分布中的具体应用.为方便描述,图3中将各TSVs从1至9进行编号,以便区别不同的TSVs.首先执行步骤一,将各TSVs之间的位置关系转换为邻接矩阵.在图3(a)中假设最大串扰影响距离为 2 d ,则转换后的邻接矩阵为矩阵(1),矩阵的行序号和列序号对应着图3(a)中TSVs的编号.

TSVs分布


本文编号：2931145