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基于FPGA和ARM的数字逻辑测试仪的设计与实现

发布时间:2020-12-22 19:51
  数字逻辑测试是电子产品测试中的重要组成部分,传统的数字逻辑测试通常采用信号发生器,频率计等标准仪表。随着工厂产能的扩大,产品测试面临新的挑战,即更高的测试平台集成度,更小的占地面积。同时,传统的测试接线方式也不能很好的支持越来越高的数字逻辑信号频率。本文设计了一种基于FPGA和ARM的数字逻辑测试仪,适用于本工厂内的主要数字逻辑信号的发生与测试,集成于工厂内的标准测试系统中,可以有效缩短从被测板到测试仪表的信号传输路径,减少信号的失真和干扰,并且能够减少部分传统仪表,帮助测试系统小型化发展。本文所做的主要工作有:1.本文首先介绍了数字逻辑测试仪开发的背景意义,国内外的嵌入式数字逻辑测试仪的研究动态,并简单介绍了数字逻辑测试仪开发完成后对工厂的实际意义。2.基于工厂内原材料现状和设计需求选择了核心芯片S3C44B0X和EP2C8Q208C8N,并设计了数字逻辑测试仪的硬件部分,包括ARM系统和FPGA电路。3.设计了 ARM系统的软件和FPGA程序,并对FPGA程序进行了信号仿真。4.结合工厂内的测试平台,编制了包含数字逻辑测试仪的上位机软件,在工厂实际测试系统中进行了集成调试,并根据调... 

【文章来源】:东南大学江苏省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:68 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

基于FPGA和ARM的数字逻辑测试仪的设计与实现


图2-2?ARM电路设计(第一部分)??8??

电路设计


ARM电路设计佛二部分)

电路选择,电源转换,芯片,电路图


可以满足S3C44B0X的I/O?口、USB芯片、RS232转换芯片、SDRAM和Flash的供电??需要。为了确保上电顺序的要求能被满足,在电路中设计了一块复位电路作为上电顺序??管理。这两部分电路的设计如图2-6所示。??ARM?F3V3????yij??Ljj?!5uHA5E^T[?L〇uy?vrc?_hTX?T:?— ̄ ̄??5K6Cl〇C?n〇〇59!08l?OUT?CC?= ̄ZC1-1-3?+?Cl」」???9\??????丁?l〇〇n〇〇000〇5料84^J^E0015777???J?.*\5E?C>40tt6H5???SYNC?GND??*?a?j?4?*?33?>u?000000502121??{;B?r:j?j?—?INH?VREF?—?11?i〇〇n000000584847?1??A???^?COMP?PB?…丨丨...?I??Cl?l?7?3K3?0000?K)589358??A5E00185745??丫?MR1?!_2?r ̄Cl_l_6?r ̄CI__l_5??IOOu?00?)0005?9870?丨?C>gX5E0076S!3:?22兩j?"60000059645:?22n〇6〇0005<M739??f|Ri?I?l??4K??〇b〇00〇59〇S85???丨?j???J??ARM?F2V5?P5?7??jRl_3_5?[}R1_3_3?P5??4K700M005908B5?l?OK?584771?T??ps?j?T?uj_3??":?l^VCC?PFO-i1〇K?584771??WD,RESET?.?2?U=3?

【参考文献】:
期刊论文
[1]一种SPI串口模块的FPGA实现[J]. 王维维,冯硕,昌畅.  电子世界. 2012(18)
[2]COM技术和动态链接库技术的应用研究[J]. 梁忠杰,思敏,李婷.  微处理机. 2008(03)
[3]基于FPGA的逻辑信号源的设计与实现[J]. 陈畅,游宇.  电子测量技术. 2007(11)
[4]基于PDIUSBD12芯片的USB接口实现方案[J]. 任卫华,叶明.  国外电子元器件. 2005(06)

硕士论文
[1]基于ARM+FPGA的雷达伺服控制器设计[D]. 冯智贵.南京理工大学 2008
[2]基于S3C44B0X的城市路灯控制器[D]. 刘雨楼.广西大学 2007



本文编号:2932330

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