一种多X值输入下测试覆盖率损失的预测方法
发布时间：2020-12-23 01:08
在集成电路的设计和测试过程中,黑盒模块,未初始化的时序单元,时钟域交叉和A/D转换器的错误行为等情况常常会导致电路中未知值X的出现.电路中X值的传播会严重影响故障的激活和敏化,降低测试覆盖率.针对电路多个输入为X值的情况,本文提出了一种的基于极端随机树算法的测试覆盖率损失的预测方法.通过对电路进行仿真分析,区域划分,提取结构特征等步骤提取出数据集,训练出高准确率高稳定性的预测模型,达到快速分析多点X值输入下电路测试覆盖率损失的目的.实验结果表明,本文模型的平均预测准确率达到了94.47%,相比于同类方法增加21.71%.单个电路的预测结果最低为89.03%,最高为99.99%,表明了本文预测模型具有很好的稳定性.
【文章来源】：微电子学与计算机. 2020年04期 北大核心
【文章页数】：7 页
【部分图文】：
s27电路结构图
图4显示的是本文方法和GSVR方法在所有测试电路中单个电路的预测效果.从图4的结果中可以看出,在所有电路中本文方法的预测准确率整体起伏不大,并且准确率基本都高于90%,最小值为b17s的89.03%,最大值为s35932下的99.99%.而文献[11]中的GSVR方法预测结果波动很大,甚至s38417电路的预测精度低于40%.图4说明了本文方法在保持较高预测精度的同时,在预测不同结构的电路上,也具有很高的稳定性.6 结束语
以ISCAS’89[12]中的s27电路为例,图1为s27电路的结构示意图.分别限制电路中的部分输入端口为X值,再通过TetraMAX[13]对每种情况下的测试覆盖率进行测试,则结果如表1所示.从表1中可以看出对于不同的输入端口,因为其在电路中的拓扑结构不同,对电路测试覆盖率的影响也不同.通常节点的扇出区域越大,对电路测试覆盖率的影响也越大.而当越多的输入端口为X值时,对应的DT-Loss也越大,当电路的所有输入端口都为X值时,电路的测试覆盖率损失为100%.表1 s27电路输入端口与DT-Loss% 输入端口 G1 G2 G5 G2,G5 G1,G2,G5 All DT-Loss 24.36 10.26 51.28 74.36 76.92 100
本文编号：2932782
【文章来源】：微电子学与计算机. 2020年04期 北大核心
【文章页数】：7 页
【部分图文】：
s27电路结构图
图4显示的是本文方法和GSVR方法在所有测试电路中单个电路的预测效果.从图4的结果中可以看出,在所有电路中本文方法的预测准确率整体起伏不大,并且准确率基本都高于90%,最小值为b17s的89.03%,最大值为s35932下的99.99%.而文献[11]中的GSVR方法预测结果波动很大,甚至s38417电路的预测精度低于40%.图4说明了本文方法在保持较高预测精度的同时,在预测不同结构的电路上,也具有很高的稳定性.6 结束语
以ISCAS’89[12]中的s27电路为例,图1为s27电路的结构示意图.分别限制电路中的部分输入端口为X值,再通过TetraMAX[13]对每种情况下的测试覆盖率进行测试,则结果如表1所示.从表1中可以看出对于不同的输入端口,因为其在电路中的拓扑结构不同,对电路测试覆盖率的影响也不同.通常节点的扇出区域越大,对电路测试覆盖率的影响也越大.而当越多的输入端口为X值时,对应的DT-Loss也越大,当电路的所有输入端口都为X值时,电路的测试覆盖率损失为100%.表1 s27电路输入端口与DT-Loss% 输入端口 G1 G2 G5 G2,G5 G1,G2,G5 All DT-Loss 24.36 10.26 51.28 74.36 76.92 100
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