基于C#的多功能专用芯片可靠性自动测试系统

发布时间：2020-12-26 02:03

　　为了在极端环境下对芯片进行高效准确的可靠性试验,本文利用C#编程语言及相应的测试设备与环境设备搭建了 一套多功能专用芯片(MFC)可靠性测试系统。系统针对自主研发的T/R多功能专用芯片的测试需求设计,通过设计FPGA开发板,并配合自主研发的多功能控制芯片实现控制信号的串并转换,能够简单、准确地切换待测芯片工作状态。综合C#、可视化编程技术、VISA(虚拟仪器软件结构)、MYSQL数据库、串口通信技术,实现了仪器一键设置、芯片状态自动切换、参数自动测试、数据自动处理保存与结果分析报告等功能。此外,系统根据微波腔体设计技术设计加工了一款临时封装夹具,该夹具性能优良,对测试数据的影响较小,可以很好地满足极端环境下的可靠性试验。结合测试系统中的辅助测温系统和环境设备,本文对多功能专用芯片进行三温试验、稳态寿命试验、抗辐照试验。经检验,整个测试系统操作简单、测试速度快、结果精确,可支持多功能专用芯片的大部分可靠性试验需求。 

【文章来源】：浙江大学浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：83 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

芯片?

的是网络入射信号与反射信号的功率，并且无需将网络开路或短路处理，只需将??输入输出的端口阻抗匹配到传输线阻抗；即可。如有需要，Ｓ参数也可直接转换??为Ｚ参数和Ｙ参数［１５］。二端口?Ｓ参数示意图如图２．２所示。归一化的电压波定??义如下：??ａｎ＝＾Ａ＝＾：，ｔ，＝?Ｕ２?（２＇！）??式中Ｇ及Ｇ为端口的入射电压波和反射电压波，＆为端口阻抗。Ｓ参数的??定义如下：??７??

位测量和群延迟测量。此外矢量网络分析仪拥有强大的校准功能，可以通过数学??的方法消除设备自身的系统误差，以获得精确的测量结果。矢量网络分析仪内部??原理框图如图２．３所示。??９??

【参考文献】：
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本文编号：2938820