引脚受限数字微流控芯片的多液滴并行测试研究

发布时间：2021-03-14 12:26

　　随着数字微流控芯片系统复杂度和电极数目的增加,共用引脚的电极控制方式应运而生。但该控制方式会造成芯片物理结构繁杂,使得芯片故障测试工作变得更加困难。提出一种基于改进的化学反应优化算法（CRO）的并行测试策略,设计引脚受限芯片测试模型,针对引脚互连的特点设计约束条件与禁忌判断规则,通过遍历测试模型中顶点和边的方式检测灾难性故障。该方案构建测试路径序列的初始分子结构,在编码中添加虚拟节点,有针对性地设计分子的撞墙、分解、合成和交换反应,采用动态参数机制控制四种反应的频率,并在CRO算法中引入Metropolis准则以改善求解效率,在约束条件下规划测试路径。实验结果表明,该方案能实现对引脚受限芯片的故障测试,无论离线或在线测试,与标准CRO算法相比,测试路径优化了2%以上,而与单液滴测试相比,优化了27%以上,表明所提方法能够有效缩短测试路径,提高测试工作的效率。 

【文章来源】：仪器仪表学报. 2020,41(08)北大核心

【文章页数】：9 页

【部分图文】：

直接寻址与引脚受限芯片对比

6×6的芯片电极转化

图3 两液滴并行测试

【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3082175