IGBT功率循环系统研制
发布时间：2021-03-18 00:27
伴随着时代的发展,绝缘栅双极型晶体管（Insulated Gate Bipolar Transistor,IGBT）作为新一代大功率开关器件,在众多领域占据着重要位置。但是在风力发电变流器、高铁、新能源汽车等使用环境中,IGBT的故障率居高不下。因此,针对IGBT可靠性及其寿命方面的研究十分必要。本文主要采用功率循环实验对IGBT可靠性方面进行研究,得到过应力情况下IGBT相关电气参数的变化情况,寻找能够反映IGBT运行状态的故障预测量,并进一步分析故障发生的机理,为建立寿命预测模型做好基础。造成IGBT失效的原因众多:过压、过流、高温等因素都会缩短器件的使用寿命。实际环境中,IGBT主要工作在周期性的开关条件下,本课题结合已有研究结论以及器件实际运行工况,设计一台可以同时进行多路IGBT功率循环的实验系统,实现器件在不同功率下工作,并可以通过温度控制策略实现周期性运行。本文主要完成以下几点工作:首先,针对温度控制,包括IGBT的壳温与结温。壳温测量采用目前国际公认的高精度温敏电阻PT100作为温度传感器,实现对IGBT壳温的实时高精度测量。结温部分采用电学参数法测量,通过多方对比,选...
【文章来源】：北京工业大学北京市 211工程院校
【文章页数】：69 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
变流器件中各部部件分失效所占比例21%电阻电感PCB板
北京工业大学工程硕士专业学位论文复合结构组成；由 MOSFET 结构实现对栅极的控制有通过电压控制通断的特性，相较传统的电力电子ate-turn-off thyristor，GTO))具有更加灵活的开关特性反偏耐压值和大通态电流的特点，扩大了器件的安全T 具有驱动电流小，反偏耐压高，饱和压降低等特
图 2-3 IGBT 等效电路图Fig.2-3 IGBT Equivalent Circuit Diagram率循环实验罗姆航展中心首次提出加速老化试验（Acc目的是在不改变被测器件失效机理的前提下效的相关统计模型进行实验。实验条件通常品的失效进程。加速老化试验可以大大缩短验效率。在进行加速老化实验过程中，应条件不应改变故障产生的基本模式与机理命试验的应力水平，应高于器件的实际工载荷同时，需要考虑是否可以同时施加各个量记录；
本文编号：3087926
【文章来源】：北京工业大学北京市 211工程院校
【文章页数】：69 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
变流器件中各部部件分失效所占比例21%电阻电感PCB板
北京工业大学工程硕士专业学位论文复合结构组成；由 MOSFET 结构实现对栅极的控制有通过电压控制通断的特性，相较传统的电力电子ate-turn-off thyristor，GTO))具有更加灵活的开关特性反偏耐压值和大通态电流的特点，扩大了器件的安全T 具有驱动电流小，反偏耐压高，饱和压降低等特
图 2-3 IGBT 等效电路图Fig.2-3 IGBT Equivalent Circuit Diagram率循环实验罗姆航展中心首次提出加速老化试验（Acc目的是在不改变被测器件失效机理的前提下效的相关统计模型进行实验。实验条件通常品的失效进程。加速老化试验可以大大缩短验效率。在进行加速老化实验过程中，应条件不应改变故障产生的基本模式与机理命试验的应力水平，应高于器件的实际工载荷同时，需要考虑是否可以同时施加各个量记录；
本文编号：3087926
本文链接：https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3087926.html
