太赫兹辐射功率密度打孔扫描测量

发布时间：2021-03-30 06:57

　　搭建了太赫兹汇聚测量光路,利用太赫兹探测器直接扫描测量的方式,实现了100 GHz辐射源空间辐射功率密度测量;利用太赫兹探测器包裹打孔锡纸的方法,减小接收孔径,消除探测器测量结果的卷积影响,提高了测量空间分辨率。将两种测量方法进行比较,结果表明:直接扫描法具有较高的信噪比,但空间分辨率低;打孔扫描法具有高空间分辨率,但信噪比较差。该结论可为太赫兹功率计量标定光路系统的设计提供参考。 

【文章来源】：实验室研究与探索. 2020,39(04)北大核心

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【部分图文】：

太赫兹汇聚测量光路图

实验将探测器固定于电控二维平移台上,光路中探测器在距离第2个透镜10 mm处采集光斑信息,实验采用100 GHz太赫兹源,扫描尺寸为20 mm×20 mm,采集光斑信息测量结果是光斑功率密度分布的卷积,卷积具有平滑的作用[15],数据拟合后结果见图2。2.3 打孔扫描法测量太赫兹辐射功率密度

电控位移平台每次移动步长1 mm,而所使用的太赫兹探测器的接收孔径远大于1 mm,故其测量结果是光斑功率密度分布的卷积。卷积结果会影响太赫兹功率密度的准确测量。为提高测量的空间分辨率,在探测器接收口前端套上锡纸,在锡纸中间打上直径为1 mm的方孔,改进前后的探测器接收端比对如图3所示。太赫兹波照射到锡纸表面后无法穿透,故经打孔法改进后的太赫兹探测器的接收孔径为1 mm。采用改进后打孔法扫描得到采集的光斑信息,测得数据经处理拟合后结果如图4所示。图4 打孔扫描法测量太赫兹功率密度分布图


本文编号：3109090