集成电路测试系统码型文件解析软件设计
发布时间：2021-04-04 15:15
集成电路产品存在于当今社会生活中的各方面,对其产品的测试贯穿产品设计制造的各个环节。现如今业内通常采用的测试方法为:测试向量作为产品中被测芯片引脚输入、测试人员记录被测芯片输出值、比较理论输出值来判断该芯片是否达标。由于测试向量的行数常为百兆数量级,对测试仪内存管理有着较高要求,因此采用能够存储、传递测试向量的码型文件作为输入是最为合理的测试向量输入方式。然而硬件仪器通常不能直接识别码型文件,故需将其解析为满足硬件仪器要求的可执行二进制文件,再产生相应的测试波形。现如今业内常见码型文件大都与各自的测试仪配套使用,新型集成电路测试系统的开发者很难将现有码型文件解析软件移植到项目中,使得集成电路测试系统的开发工作更加复杂。本文针对上述问题,研究了泰瑞达码型文件（后称T类码型文件）的语法结构、词法结构,并且对比了T类与STIL类码型文件的异同点,再结合解析软件的构成方式,设计并实现了适用于多种码型文件的解析软件设计。在设计过程中,根据软设计高内聚低耦合的设计原则,本论文采用分层的思想,使程序具有了较好的可读性和扩展性。本论文包含了以下主要内容:1.针对码型文件种类较多的问题,以T类码型文件为...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：82 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
集成电路测试系统结构框图
图 2-2 集成电路测试仪结构示意图图 2-2 展示了整个测试过程中测试信息如何作用于各个硬件模块。首先，主算机在生成测试所需的测试向量后，通过 PCI 总线或者其它接口将数据下发至试板中的 CUB（Clock Utility Board）模块，再由 CUB 模块将不同数据分别传测试仪不同模块进行处理。在下发过程中由驱动控制向通道板发送测试向量的率和发送的电压值；其次测试机获得测试向量后，按照相应的时间频率将测试量对应的的电压值依次传递至数字通道板；最后通道板将通道响应依次下发至测芯片的对应引脚芯片从而产生响应。图中数字通道板的结构如图 2-3 所示。
图 2-2 集成电路测试仪结构示意图图 2-2 展示了整个测试过程中测试信息如何作用于各个硬件模块。首先，算机在生成测试所需的测试向量后，通过 PCI 总线或者其它接口将数据下发试板中的 CUB（Clock Utility Board）模块，再由 CUB 模块将不同数据分别测试仪不同模块进行处理。在下发过程中由驱动控制向通道板发送测试向量率和发送的电压值；其次测试机获得测试向量后，按照相应的时间频率将测量对应的的电压值依次传递至数字通道板；最后通道板将通道响应依次下发测芯片的对应引脚芯片从而产生响应。图中数字通道板的结构如图 2-3 所示
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路设计产业的发展趋势[J]. 于宗光,黄伟. 半导体技术. 2014(10)
[2]基于STIL语言的大规模数字集成电路测试软件设计[J]. 汪若虚,黄从开,戚瑞民. 电子质量. 2014(04)
[3]集成电路产业形态的演变和发展机遇[J]. 雷瑾亮,张剑,马晓辉. 中国科技论坛. 2013(07)
[4]浅谈信息系统软件工程监理工作的特点[J]. 林少然,张木香. 建设监理. 2011(02)
[5]计算语言学的历史回顾与现状分析[J]. 冯志伟. 外国语(上海外国语大学学报). 2011(01)
[6]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[7]SCPI语言解析器的设计与实现[J]. 杜秀伟,王前程. 电子质量. 2008(08)
[8]一个简单语言编译器的设计与实现[J]. 魏乐,赵秋云,刘文清. 成都信息工程学院学报. 2007(03)
[9]测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法[J]. 吴明行,韩银和,胡瑜,李晓维. 计算机工程. 2006(23)
[10]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
硕士论文
[1]混合集成电路测试系统上位机软件设计[D]. 朱龙飞.电子科技大学 2013
[2]数字集成电路测试矢量输入方法研究和软件实现[D]. 窦艳杰.电子科技大学 2012
[3]模拟集成电路测试系统及网络设计[D]. 易指松.电子科技大学 2012
[4]数字集成电路测试系统软件设计[D]. 温晓佩.电子科技大学 2011
[5]集成电路测试仪的总线接口与驱动程序设计[D]. 王化宁.电子科技大学 2010
[6]混合信号集成电路自动测试设备的研究与实现[D]. 韩兵兵.湖南大学 2009
[7]虚拟仪器技术基础及其应用研究[D]. 宋莉.大连理工大学 2003
本文编号：3118282
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：82 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
集成电路测试系统结构框图
图 2-2 集成电路测试仪结构示意图图 2-2 展示了整个测试过程中测试信息如何作用于各个硬件模块。首先，主算机在生成测试所需的测试向量后，通过 PCI 总线或者其它接口将数据下发至试板中的 CUB（Clock Utility Board）模块，再由 CUB 模块将不同数据分别传测试仪不同模块进行处理。在下发过程中由驱动控制向通道板发送测试向量的率和发送的电压值；其次测试机获得测试向量后，按照相应的时间频率将测试量对应的的电压值依次传递至数字通道板；最后通道板将通道响应依次下发至测芯片的对应引脚芯片从而产生响应。图中数字通道板的结构如图 2-3 所示。
图 2-2 集成电路测试仪结构示意图图 2-2 展示了整个测试过程中测试信息如何作用于各个硬件模块。首先，算机在生成测试所需的测试向量后，通过 PCI 总线或者其它接口将数据下发试板中的 CUB（Clock Utility Board）模块，再由 CUB 模块将不同数据分别测试仪不同模块进行处理。在下发过程中由驱动控制向通道板发送测试向量率和发送的电压值；其次测试机获得测试向量后，按照相应的时间频率将测量对应的的电压值依次传递至数字通道板；最后通道板将通道响应依次下发测芯片的对应引脚芯片从而产生响应。图中数字通道板的结构如图 2-3 所示
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路设计产业的发展趋势[J]. 于宗光,黄伟. 半导体技术. 2014(10)
[2]基于STIL语言的大规模数字集成电路测试软件设计[J]. 汪若虚,黄从开,戚瑞民. 电子质量. 2014(04)
[3]集成电路产业形态的演变和发展机遇[J]. 雷瑾亮,张剑,马晓辉. 中国科技论坛. 2013(07)
[4]浅谈信息系统软件工程监理工作的特点[J]. 林少然,张木香. 建设监理. 2011(02)
[5]计算语言学的历史回顾与现状分析[J]. 冯志伟. 外国语(上海外国语大学学报). 2011(01)
[6]我国集成电路测试技术现状及发展策略[J]. 俞建峰,陈翔,杨雪瑛. 中国测试. 2009(03)
[7]SCPI语言解析器的设计与实现[J]. 杜秀伟,王前程. 电子质量. 2008(08)
[8]一个简单语言编译器的设计与实现[J]. 魏乐,赵秋云,刘文清. 成都信息工程学院学报. 2007(03)
[9]测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法[J]. 吴明行,韩银和,胡瑜,李晓维. 计算机工程. 2006(23)
[10]VLSI超大规模集成电路测试和验证的发展趋势[J]. 贾建革,段新安,李咏雪. 中国测试技术. 2005(06)
硕士论文
[1]混合集成电路测试系统上位机软件设计[D]. 朱龙飞.电子科技大学 2013
[2]数字集成电路测试矢量输入方法研究和软件实现[D]. 窦艳杰.电子科技大学 2012
[3]模拟集成电路测试系统及网络设计[D]. 易指松.电子科技大学 2012
[4]数字集成电路测试系统软件设计[D]. 温晓佩.电子科技大学 2011
[5]集成电路测试仪的总线接口与驱动程序设计[D]. 王化宁.电子科技大学 2010
[6]混合信号集成电路自动测试设备的研究与实现[D]. 韩兵兵.湖南大学 2009
[7]虚拟仪器技术基础及其应用研究[D]. 宋莉.大连理工大学 2003
本文编号：3118282
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