高功率半导体激光阵列的高温特性机理

发布时间：2021-04-18 02:09

　　高峰值功率半导体激光阵列在高温工作条件中的应用需求日益凸显,本文以微通道封装的高峰值功率960 nm半导体激光阵列为研究对象,通过精密控温系统测试了其在10～80℃范围内峰值功率、电光转换效率、工作电压和光谱等一系列光电特性,结合理论分析,给出不同温度下电光转化效率的能量损耗分布。结果表明,工作温度从10℃升高到80℃后,电光转化效率从63.95%下降到47.68%,其中载流子泄漏损耗占比从1.93%上升到14.85%,是导致电光转换效率下降的主要因素。该研究对高峰值功率半导体激光器阵列在高温应用和激光芯片设计方面具有重要的指导意义。 

【文章来源】：发光学报. 2020,41(09)北大核心EICSCD

【文章页数】：7 页

【部分图文】：

激光阵列高温测试表征系统简图

高峰值功率半导体激光阵列测试曲线和近场光斑测试图。

器件在10～80 ℃范围内的输出功率如图3所示,从功率-电流(P-I)曲线可以分别获得在不同温度下器件的阈值电流,斜率效率和特征温度。激光器的输出功率表示如下[12]:

【参考文献】：
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本文编号：3144587