0.632μm激光辐照可见光CCD干扰机理研究

发布时间：2021-04-25 19:52

　　利用0. 632μm波长激光辐照可见光CCD成像传感器进行激光干扰实验。结果表明,随着激光能量密度的增强,在CCD输出图像中逐渐出现辐照光斑、竖直白线、全屏饱和等典型激光干扰现象。当像面上的激光功率密度达到9. 8×10^-7W/cm²时,CCD出现光饱和串音,达到2. 8 W/cm²时,进入全屏饱和状态。通过分析CCD的结构及材料,发现在光电效应中光生载流子在极短时间内从势阱中溢出,在势垒的阻挡下,沿着竖直方向溢出速度高于水平方向,从而出现竖直白线现象。研究结果丰富了激光对CCD成像器件干扰效应的理解,为激光辐照CCD器件的干扰机理提供了理论依据。 

【文章来源】：激光杂志. 2020,41(02)北大核心

【文章页数】：4 页

【文章目录】：
1 引言
2 激光辐照CCD实验
3 激光干扰现象分析
4 结论


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3159993