高精度高速ADC测试方案设计与实现
发布时间：2021-05-10 00:35
随着电子信息技术的不断发展,集成电路的集成度与复杂度不断提升,对集成电路测试的要求也在不断提高,而集成电路测试技术正在向高度自动化、一体化的趋势发展。ADC（Analog-to-Digital20Converter,模数转换器）作为一种混合集成电路,需要测试系统即能实现数字信号的发送和采集,也能实现模拟信号的采集,对集成电路测试设备提出了特殊需求。而随着ADC精度与速度的不断提升,高精度高速ADC测试对集成电路测试设备的需求日益提高。本课题研究内容是高精度高速ADC测试方案的设计与实现,详细分析了从测试方法到软硬件的设计思路。课题的主要研究内容如下:（1）根据ADC的各项指标参数,提出相应的测试方法和对测试设备的指标需求,形成一个综合的测试方案。ADC参数主要分为直流参数、静态参数、动态参数等,其中高精度ADC静态参数和动态参数的测试,对测试条件提出了较高的要求。而ADC本身速度越高,对测试系统的信号带宽、数据传输速率又提出一定的要求。（2）根据测试设备的指标需求选用适合的测试设备,搭建测试系统。本文选择了ESPXIE1000集成电路测试系统,ESPXIE1000是一款支持混合IC测试...
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：78 页
【学位级别】：硕士
【文章目录】：
摘要
abstract
第一章 绪论
1.1 研究课题背景与意义
1.2 国内外研究现状和发展态势
1.3 课题技术指标与研究内容
第二章 测试系统搭建与测试方法设计
2.1 测试系统总体结构
2.1.1 测试系统结构选择
2.1.2 基于ATE的测试系统结构
2.2 引脚参数测试
2.2.1 参数扫描法测试
2.2.2 PPMU测试
2.3 模拟参数测试
2.3.1 静态参数测试
2.3.2 动态参数测试
2.4 电源参数测试
2.5 测试系统指标需求分析
2.6 本章小结
第三章 DIB与辅助电路设计
3.1 DIB总体结构
3.2 高精度时钟源设计
3.3 模拟通道设计及模拟通道校准
3.3.1 模拟通道设计
3.3.2 模拟通道校准
3.4 电源调理电路
3.5 本章小结
第四章 测试流程设计
4.1 测试流程总体框架
4.2 基本功能测试
4.3 引脚参数测试
4.3.1 参数扫描法测试
4.3.2 PPMU测试
4.4 模拟参数测试
4.4.1 模拟信号激励产生与数字信号采集
4.4.2 静态参数计算
4.4.3 动态参数计算
4.5 电源参数测试
4.6 本章小结
第五章 测试结果
5.1 测试基本流程
5.2 测试结果与分析
5.2.1 连通性测试与基本功能测试
5.2.2 引脚参数测试
5.2.3 静态参数测试
5.2.4 动态参数测试
5.3 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 总结
6.2 展望
致谢
参考文献
附录
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路测试设备市场概况及预测[J]. 李丹. 电子产品世界. 2019(10)
[2]一种新颖的ADC非线性误差测试方法[J]. 彭伟,张俊,程杰,刘若琛. 微电子学. 2019(03)
[3]下一代光传输系统中超高速ADC芯片性能测试方法[J]. 菅端端,钟明琛. 电子学报. 2018(09)
[4]基于ATE的FPGA测试技术研究和应用[J]. 王华. 电子与封装. 2018(07)
[5]高性能ADC芯片测试技术研究[J]. 王华. 中国集成电路. 2018(06)
[6]基于ATE的FLASH型FPGA测试方法研究[J]. 张金凤,唐金慧,马成英. 电子世界. 2018(10)
[7]1220bit203020MSPS逐次比较型ADC的测试[J]. 杨云帆,赵雷,周圣智,刘建峰,刘树彬,安琪. 原子核物理评论. 2018(01)
[8]下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法[J]. 菅端端,张驰. 电子测量技术. 2018(05)
[9]基于Blackman-Harris窗三谱线插值测试ADC信噪比的方法（英文）[J]. 虞致国,孙益洲,黄朴,何芹,顾晓峰. Journal of Measurement Science and Instrumentation. 2017(04)
[10]一种基于参数提取算法的快速ADC测试方法[J]. 陈豹,王逢州. 电子器件. 2017(05)
硕士论文
[1]基于数字信号处理的高精度ADC测试方法研究[D]. 何江涛.电子科技大学 2019
[2]基于J750的Virtex-Ⅱ型FPGA测试[D]. 杨超.电子科技大学 2018
[3]基于FPGA的高速ADC性能测试系统设计[D]. 刘宾.西安电子科技大学 2017
[4]虚拟仪器技术在高速DAC测试中的应用研究[D]. 李岳.西南科技大学 2017
[5]高速高精度数据转换器测试验证系统设计与实现[D]. 祖俊婕.东南大学 2017
[6]基于FPGA的混合信号芯片测试系统设计[D]. 张荣刚.中北大学 2017
[7]高速高精度D/A转换器测试技术[D]. 俞宙.电子科技大学 2014
本文编号：3178328
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：78 页
【学位级别】：硕士
【文章目录】：
摘要
abstract
第一章 绪论
1.1 研究课题背景与意义
1.2 国内外研究现状和发展态势
1.3 课题技术指标与研究内容
第二章 测试系统搭建与测试方法设计
2.1 测试系统总体结构
2.1.1 测试系统结构选择
2.1.2 基于ATE的测试系统结构
2.2 引脚参数测试
2.2.1 参数扫描法测试
2.2.2 PPMU测试
2.3 模拟参数测试
2.3.1 静态参数测试
2.3.2 动态参数测试
2.4 电源参数测试
2.5 测试系统指标需求分析
2.6 本章小结
第三章 DIB与辅助电路设计
3.1 DIB总体结构
3.2 高精度时钟源设计
3.3 模拟通道设计及模拟通道校准
3.3.1 模拟通道设计
3.3.2 模拟通道校准
3.4 电源调理电路
3.5 本章小结
第四章 测试流程设计
4.1 测试流程总体框架
4.2 基本功能测试
4.3 引脚参数测试
4.3.1 参数扫描法测试
4.3.2 PPMU测试
4.4 模拟参数测试
4.4.1 模拟信号激励产生与数字信号采集
4.4.2 静态参数计算
4.4.3 动态参数计算
4.5 电源参数测试
4.6 本章小结
第五章 测试结果
5.1 测试基本流程
5.2 测试结果与分析
5.2.1 连通性测试与基本功能测试
5.2.2 引脚参数测试
5.2.3 静态参数测试
5.2.4 动态参数测试
5.3 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 总结
6.2 展望
致谢
参考文献
附录
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路测试设备市场概况及预测[J]. 李丹. 电子产品世界. 2019(10)
[2]一种新颖的ADC非线性误差测试方法[J]. 彭伟,张俊,程杰,刘若琛. 微电子学. 2019(03)
[3]下一代光传输系统中超高速ADC芯片性能测试方法[J]. 菅端端,钟明琛. 电子学报. 2018(09)
[4]基于ATE的FPGA测试技术研究和应用[J]. 王华. 电子与封装. 2018(07)
[5]高性能ADC芯片测试技术研究[J]. 王华. 中国集成电路. 2018(06)
[6]基于ATE的FLASH型FPGA测试方法研究[J]. 张金凤,唐金慧,马成英. 电子世界. 2018(10)
[7]1220bit203020MSPS逐次比较型ADC的测试[J]. 杨云帆,赵雷,周圣智,刘建峰,刘树彬,安琪. 原子核物理评论. 2018(01)
[8]下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法[J]. 菅端端,张驰. 电子测量技术. 2018(05)
[9]基于Blackman-Harris窗三谱线插值测试ADC信噪比的方法（英文）[J]. 虞致国,孙益洲,黄朴,何芹,顾晓峰. Journal of Measurement Science and Instrumentation. 2017(04)
[10]一种基于参数提取算法的快速ADC测试方法[J]. 陈豹,王逢州. 电子器件. 2017(05)
硕士论文
[1]基于数字信号处理的高精度ADC测试方法研究[D]. 何江涛.电子科技大学 2019
[2]基于J750的Virtex-Ⅱ型FPGA测试[D]. 杨超.电子科技大学 2018
[3]基于FPGA的高速ADC性能测试系统设计[D]. 刘宾.西安电子科技大学 2017
[4]虚拟仪器技术在高速DAC测试中的应用研究[D]. 李岳.西南科技大学 2017
[5]高速高精度数据转换器测试验证系统设计与实现[D]. 祖俊婕.东南大学 2017
[6]基于FPGA的混合信号芯片测试系统设计[D]. 张荣刚.中北大学 2017
[7]高速高精度D/A转换器测试技术[D]. 俞宙.电子科技大学 2014
本文编号：3178328
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