面向5G移动通信的LTE终端芯片自动化测试方法研究设计与实现
发布时间:2021-05-11 22:14
移动通信已进入5GNR(New Radio)时代,终端基带处理芯片作为用户体验最核心的组成部分,成为5GNR技术研究的一个热点和难点。5GNR系统面向用户群体复杂而广泛,致使5GNR组网复杂性需要兼顾,使得终端基带处理芯片必须具备更大的规模和复杂度,这直接导致芯片的设计以及测试验证工作变得更复杂和困难。仅通过人工测试,不再能够显著提高产品生产率和劳动效率。本论文研究内容来源于深圳市中兴微电子技术有限公司的“基于LTE方向面向5G的自动化平台构建研究”项目。论文针对面向5G的7520wisefoneV3多模软基带芯片产品,通过理论研究、功能分析、设计实现及测试验证,完成了“面向5G移动通信的LTE终端芯片自动化测试方法研究与实现”的课题目标。论文主要工作包括:1.自动化平台的选型和自动化平台框架设计。2.针对7520V3单模功能,协议,功耗,性能,进行了自动化测试方法的论证,采用对发起端单步控制,异步自动分析的模式,实现完全脱离人工执行。3.针对7520V3不同的终端形态,执行自动化测试结果并验证最终的数据结论。论文取得的主要研究成果如下:1.分析了 5G,Pre5G,与4GLTE测试特...
【文章来源】:西安电子科技大学陕西省 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:91 页
【学位级别】:硕士
【文章目录】:
摘要
ABSTRACT
符号对照表
缩略语对照表
第一章 绪论
1.1 论文选题背景及意义
1.1.1 论文选题的技术背景
1.1.2 论文选题的意义
1.2 主要研究工作以及成果
1.3 论文主要内容及结构概述
1.4 国内外研究现状
1.4.1 LTE研究现状
1.4.2 从LTE到NBIOT再到5GNR的关系
1.4.3 LTE基带测试研究现状
1.5 本章小结
第二章 面向LTE以及5GNR协议的基带自动化测试技术
2.1 面向LTE及5GNR协议测试技术
2.1.1 LTE技术特点分析
2.1.2 5GNR技术特点分析
2.1.3 LTE与5GNR协议的自动化测试方法
2.2 面向LTE及5GNR协议的测试平台
2.2.1 脚本执行的自动化测试平台
2.2.2 测试平台的硬件构架
2.2.3 测试平台的软件结构
2.2.4 自动化平台的选择可采取以下几种方式
2.3 测试对象与测试需求
2.3.1 测试对象
2.3.2 协议信令功能测试
2.3.3 功耗测试
2.3.4 性能测试
2.4 本章小结
第三章 协议信令自动化测试目标的实现
3.1 终端芯片协议测试的环境
3.2 终端自动化控制方案
3.3 E-UTRAN网测控制方案
3.4 离线自动分析方案
3.5 测试结果与结果分析
3.6 本章小结
第四章 功耗自动化测试目标的实现
4.1 终端芯片功耗测试环境搭建
4.2 USB插拔控制方案
4.3 电流计的控制与数据分析方案
4.4 测试结果与结果分析
4.5 本章小结
第五章 性能测试自动化测试目标的实现
5.1 终端芯片性能测试环境搭建
5.2 信道衰落仪的控制与数据分析方案
5.3 测试结果与结果分析
5.4 本章小结
第六章 测试效率的对比分析
6.1 自动化测试的优化对比
6.2 7520V3各测试结果对比
6.3 面向量产的自动化测试质量产出模型分析
6.4 面向量产的自动化测试质量产出成本模型分析
6.5 本章小结
第七章 总结以及对后续工作的展望
参考文献
致谢
作者简介
本文编号:3182199
【文章来源】:西安电子科技大学陕西省 211工程院校 教育部直属院校
【文章页数】:91 页
【学位级别】:硕士
【文章目录】:
摘要
ABSTRACT
符号对照表
缩略语对照表
第一章 绪论
1.1 论文选题背景及意义
1.1.1 论文选题的技术背景
1.1.2 论文选题的意义
1.2 主要研究工作以及成果
1.3 论文主要内容及结构概述
1.4 国内外研究现状
1.4.1 LTE研究现状
1.4.2 从LTE到NBIOT再到5GNR的关系
1.4.3 LTE基带测试研究现状
1.5 本章小结
第二章 面向LTE以及5GNR协议的基带自动化测试技术
2.1 面向LTE及5GNR协议测试技术
2.1.1 LTE技术特点分析
2.1.2 5GNR技术特点分析
2.1.3 LTE与5GNR协议的自动化测试方法
2.2 面向LTE及5GNR协议的测试平台
2.2.1 脚本执行的自动化测试平台
2.2.2 测试平台的硬件构架
2.2.3 测试平台的软件结构
2.2.4 自动化平台的选择可采取以下几种方式
2.3 测试对象与测试需求
2.3.1 测试对象
2.3.2 协议信令功能测试
2.3.3 功耗测试
2.3.4 性能测试
2.4 本章小结
第三章 协议信令自动化测试目标的实现
3.1 终端芯片协议测试的环境
3.2 终端自动化控制方案
3.3 E-UTRAN网测控制方案
3.4 离线自动分析方案
3.5 测试结果与结果分析
3.6 本章小结
第四章 功耗自动化测试目标的实现
4.1 终端芯片功耗测试环境搭建
4.2 USB插拔控制方案
4.3 电流计的控制与数据分析方案
4.4 测试结果与结果分析
4.5 本章小结
第五章 性能测试自动化测试目标的实现
5.1 终端芯片性能测试环境搭建
5.2 信道衰落仪的控制与数据分析方案
5.3 测试结果与结果分析
5.4 本章小结
第六章 测试效率的对比分析
6.1 自动化测试的优化对比
6.2 7520V3各测试结果对比
6.3 面向量产的自动化测试质量产出模型分析
6.4 面向量产的自动化测试质量产出成本模型分析
6.5 本章小结
第七章 总结以及对后续工作的展望
参考文献
致谢
作者简介
本文编号:3182199
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3182199.html