ANSI/ESD STM5.5.1-2014《元件级传输线脉冲静电放电敏感度测试》标准分析

发布时间：2021-07-11 23:59

　　本文通过分析传输线脉冲静电敏感度测试标准ANSI/ESD STM5.5.1-2014,并与该标准2008年版本进行比较,对传输线脉冲的测试曲线、波形参数、测试方法等重要技术指标的修订进行解读。 

【文章来源】：标准科学. 2016,(11)

【文章页数】：4 页

【部分图文】：

TLP测试V-I曲线及测量参数

嬷卸圆馐圆问?图扑愎?蕉甲龀隽私洗?幅度的改进，使得测试方法都更精确且更符合测试中的实际情况[8]。（1）电流源TLP电流源TLP测试在DUT上串联500欧的电阻，然后通过电流与电压探针在双通道示波器上测量DUT的电压和电流，由于500欧与56欧的接地电阻并联可获得50欧的匹配阻抗用以匹配特性阻抗为50欧的传输线，使得脉冲只有少量的反射。因此不需要参考脉冲。最新修订版中，短路电流由原来的5安培修订为1安培。上升时间由原来的“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽”修订为“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽的25%”（如图2所示）。图2电流源TLP测试（2）时域反射TLP时域反射TDR通常会发生多重发射，需配有衰减器用以衰减反射脉冲，若反射脉冲覆盖了原始脉冲，则还需参考脉冲进行参考。该测试方法系统阻抗为50欧，最大电流通常大于10安培。短路电流由原来的10安培修订为20安培；脉冲宽度由原来的“大于1ns”修订为“大于10ns”；上升时间由原来的“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽”修订为“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽的25%”（如图3所示）。图3时域反射TLP测试（3）时域传输TLP在示波器上直接测量传输波形的TLP测试方·EvaluationandAnalysisonStandard·

唷Ｉ仙?奔溆稍?吹摹按笥?ns、小于等于脉冲半峰宽”修订为“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽的25%”（如图2所示）。图2电流源TLP测试（2）时域反射TLP时域反射TDR通常会发生多重发射，需配有衰减器用以衰减反射脉冲，若反射脉冲覆盖了原始脉冲，则还需参考脉冲进行参考。该测试方法系统阻抗为50欧，最大电流通常大于10安培。短路电流由原来的10安培修订为20安培；脉冲宽度由原来的“大于1ns”修订为“大于10ns”；上升时间由原来的“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽”修订为“大于3ns、小于等于脉冲半峰宽的25%”（如图3所示）。图3时域反射TLP测试（3）时域传输TLP在示波器上直接测量传输波形的TLP测试方·EvaluationandAnalysisonStandard·

【参考文献】：
期刊论文
[1]一种新型IC保护单元ESD评价方式——TLP测试[J]. 陆坚,朱卫良.  电子与封装. 2008(12)
[2]集成电路抗ESD设计中的TLP测试技术[J]. 罗宏伟,师谦.  电子产品可靠性与环境试验. 2003(04)



本文编号：3278765