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InGaN/GaN界面对Si基GaN黄绿光LED性能影响的研究

发布时间:2021-07-16 17:10
  纵观半导体照明技术的发展史,黄绿光等长波段的GaN基LED较低的发光效率,一直是半导体照明技术在照明领域得到广泛应用的一大阻碍。为了获得照明用的白光,目前使用广泛的方法是用蓝光LED激发黄色荧光粉。但是这种方法由于其蓝光含量较高,容易带来显示指数与色温之间的失调,并且具有“蓝光危害”等潜在风险。所以,研究者们开始寻找更为均衡,更为健康的光源。而多基色LED混合形成白光就是一种行之有效的解决方案。但是此种方案实现的前提,是各个波段的LED都能达到较高的发光效率。遗憾的是,目前无论是InGaN材料路线还是AlGaInP材料路线,其黄绿光波段的LED的发光效率均处在较低的水平,这也是多基色合成白光LED的难点所在。本论文在本单位前期已经在长波长LED的研究中取得较大突破的基础上,通过对InGaN/GaN准备层生长方法的优化,研究其对InGaN/GaN准备层和量子阱的界面质量以及长波长LED光电性能的影响,并取得了以下的研究成果:1.通过在准备层GaN垒的生长过程中,引入不同时长的H2进行处理,研究了 H2处理准备层GaN垒的时长对黄绿光LED的准备层界面质量,量子阱晶体质量及光电性能的影响。... 

【文章来源】:南昌大学江西省 211工程院校

【文章页数】:71 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

InGaN/GaN界面对Si基GaN黄绿光LED性能影响的研究


图1.41氮化物的反应平衡常数与温度的关系l26]??

压电,晶体结构,电荷,极性


?第1章绪论???1.4.2有源区极化电场??/—?cation??/?>—?anion??Liy?jJ?|??1%.?V?xIt/??心?-一?k\????......"一—??图1.42六方纤锌矿晶体结构丨34】??如图1.42所示[341由于纤锌矿GaN是六方对称结构,存在着正负两个电荷??中心,因此会发生自发极化和压电极化。并且根据PiprekJ的观测,量子阱内极??化电场的强度是随着丨n组分的含量呈线性增加的135]。尤其对于黄绿光LED来??说,其内部的极化电场强度达到了一个很高的水平,高的极化电场会产生较强的??量子限制斯达克效应(quantumconfmementstarkeffect?简称?QCSE)?[36,37],使得??阱内电子与空穴的波函数分离,最终导致载流子复合率下降,加剧载流子的泄露。??由于压电电场是沿c轴方向产生的,在非极性面(相对于c面垂直的a面??或m面)的法线上,或半极性面(相对于c轴倾斜的x斜面)的法线上生长可??以弱化压电场的影响。因此在非极性或半极性衬底上生长GaN基LED是一种??从源头上减小压电效应的方法,不少学者对这种方法进行尝试,并取得了一些研??究进展[384()】。但是,由于非极性或半极性衬底的成本较高,这样的方法现在还只??能停留在实验室阶段,难以大规模地应用。??目前最常用的降低量子阱中极化效应的方法是,在阱前插入一层??InGaN/GaN超晶格(Superlattich简称SL)应力准备层来释放应力。研究表明,??与直接生长在n-GaN上的量子阱相比,插入了应力准备层的样品的阱内应力得??到释放,晶体质量和发光效率都得到了大幅提高

示意图,示意图,量子阱,侧壁


?第1章绪论???显的效果。但是,当H2的量过多时,也会造成丨nGaN量子阱的分解,使得阱皇??之间的界面反而变得更差[49-51]。这证明在生长过程汇总采用H2处理GaN量子垒??对于提升界面质量是有效的,但是H2的使用不宜过量。??1.5多量子阱中的V形坑??1.5.1?V形坑的结构??V形坑是一种在GaN基LED中常见的一种缺陷,由于其横截面像一个V??字而得名。如图1.51所示,它的形状是倒六角金字塔状,由六个(10-11)侧面??包围形成,每个侧面与(0001)面呈62°角,与中心轴的夹角约为28°?[521。图??1.52为V形坑的剖面STEM照片可以看出,V形坑的中心通常会有-?根贯??穿V形坑底部的位错线。图片中的亮条纹为In含量较高的量子阱,可以看出,??在包含V形坑的量子阱结构中,不仅平台处有量子阱,在V形坑的侧壁,同样??存在量子阱区域。相比于平台量子阱,侧壁量子阱的阱宽更小,且In的含量更??低[54】。??W??图1.51?V形坑的结构示意图??10??

【参考文献】:
期刊论文
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博士论文
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硕士论文
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[2]量子垒结构与生长方法对Si衬底GaN基长波长LED性能影响的研究[D]. 胡耀文.南昌大学 2019
[3]硅衬底GaN基绿光LED的量子阱结构对光电性能影响的研究[D]. 王振旭.南昌大学 2019
[4]喷淋头高度调节InGaN/GaN量子阱生长及n-AlGaN电子阻挡层的模拟研究[D]. 柯昀洁.大连理工大学 2013



本文编号:3287413

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