EMI测试中的背景噪声消除技术研究

发布时间：2021-08-06 00:12

　　随着电子与通信技术的高速发展,越来越多的电子设备被普及到了人民的日常生活之中,由此带来的还有愈加严重的电磁干扰问题。为保证电子设备可在干扰下正常使用,厂家需要对其上市销售的设备进行EMI检测。检测时若无法保证测试的可靠性,则无法获得设备准确的电磁特性,故而需要对测试得到的信号进行噪声压制,还原真实的设备电磁信号特征。本论文针对这类问题,研究EMI测试中背景噪声的消除技术。本文总结研究了EMI测试的技术,分析了可能的测试场景以及其对应环境下不同的测试方案。考虑到不同的EMI测试环境可能出现的干扰,对由此产生的几种主要噪声进行了研究。再此基础上,通过对数种干扰抑制技术进行分析,选择了虚拟暗室技术并以此为基础设计了噪声压制的方案,同时采用软件方法进行了测试与验证。论文的工作包括以下部分:基于自适应理论噪声的对消器设计。本文考虑到测试场景的变化,为应对不同性质的各类噪声,选择了自适应方法对时变非平稳干扰进行处理。采用基于不同方式最小化代价函数的两类自适应滤波方法,对其去噪能力进行了理论上研究分析。考虑到硬件设备在物理条件上的限制,对算法结构进行了改造,使其可以在线接收噪声并实时处理。最后为了验... 

【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】：86 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
abstract
第一章 绪论
    1.1 研究背景及意义
    1.2 国内外研究现状
    1.3 研究内容及意义
    1.4 论文结构及安排
第二章 EMI测试及干扰抑制
    2.1 EMI测试技术
        2.1.1 传导发射测试方法
        2.1.2 辐射发射测试方法
    2.2 电磁检测中的干扰
        2.2.1 电磁检测中的干扰分析
        2.2.2 电磁检测中的噪声分析
    2.3 干扰抑制技术
    2.4 本章小结
第三章 自适应噪声压制方法
    3.1 自适应滤波器
        3.1.1 最陡下降法和LMS算法
        3.1.2 最小二乘法和RLS算法
    3.2 影响滤波能力的因素
        3.2.1 滤波器性能因素
        3.2.2 LMS算法中的影响因素研究分析
        3.2.3 RLS算法中的影响因素研究分析
    3.3 基于自适应理论的噪声对消器
    3.4 仿真及结果分析
    3.5 本章小结
第四章 非线性系统噪声压制方法
    4.1 非线性系统在高维空间中的线性化
        4.1.1 复希尔伯特空间
        4.1.2 Mercer核及核技巧的引入
        4.1.3 非线性函数线性化推导
        4.1.4 运用核技巧的常用核函数改造
    4.2 非线性系统的核自适应算法
        4.2.1 新型KLMS算法构建
        4.2.2 新型KRLS算法构建
    4.3 仿真结果及分析
    4.4 本章小结
第五章 总结与展望
    5.1 论文总结
    5.2 后续展望
致谢
参考文献



本文编号：3324704