集成电路测试仪的校准设计与实现
发布时间：2021-08-06 20:48
随着越来越多的IC测试仪在集成电路行业被生产和使用,IC测试仪的校准工作也变得越来越不可或缺。为了确保IC测试仪的各项性能指标都能达到测试使用要求,保证IC测试仪上各测试模块的测量准确度,需要对IC测试仪进行全面的校准。论文主要任务是对IC测试仪各功能模块的各项参数的校准方法进行研究,提出具体的IC测试仪整体校准方案,设计相应的硬件电路并进行相关的校准调试工作以对校准方案进行全面的验证。具体的研究内容主要有以下几个方面:1、分析IC测试仪系统的特性及性能指标,明确校准目标,找出需要进行校准的功能模块标准参数,并确定这些被校准参数的规定指标;2、研究需要校准的参数的特点,根据具体的参数特性设计具有针对性的校准方案,并保证校准设计方案的可行性;3、根据IC测试仪校准方案的设计要求,完成IC测试仪校准硬件电路即校准板的设计,并具体分析校准板的设计过程;4、通过反复进行IC测试仪校准调试,验证校准方案的可行性并分析校准数据,进而完善校准设计方案以满足相关性能指标。
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：73 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
DIB板连接示意图
第二章集成电路测试仪及其校准7图2-2DPS供电原理图3）CUB板CUB板作为测试机控制的核心，主要提供数据的分发和回传，将数据分发至数字通道板和DPS板，并将下面各功能板上回传的数据接收转发至上位机。上面还有一些辅助控制位，在需要时可以设置传输相关控制信号。4）DIB板DIB（deviceinterfaceboard）板是连接IC测试仪与被测器件的一个接口板，一面与数字通道板、DPS板和CUB板上一些信号（数字通道信号、电源信号、控制信号等等）通过弹簧针（PogoPin）连接到DIB板上的弹簧焊盘（PogoPad）上；一面通过DUT（deviceundertest）插槽将这些相关信号接出并连接到被测器件上，供测试使用。如图2-3所示，每个数字通道板有上下两个弹簧针接口，通过这些接口把数字通道板上的相关信号连接到DIB板上。目前课题中的IC测试仪测试系统上的DIB板上有4个DUT插槽（SLOT0-SLOT3），单个DUT插槽上有64个数字通道。如图2-4所示。图2-3DIB板连接示意图
电子科技大学硕士学位论文8图2-4DIB板上的4个DUT插槽5）背板背板连接CUB板、数字通道板和DPS板，上面接入系统电源，并给CUB板和数字通道板提供插槽。2.1.2IC测试仪上位机软件2.1.2.1工程开发软件工程开发软件是执行IC测试仪测试的软件工具，是进行IC测试仪测试最直观、最主要的人机交互界面。用户将被测器件资料进行信息提取后，将测试管脚的信息及测试流程按照数据模板录入相应的表格中，然后控制数据的下发，并将测试结果输出。工程开发界面由一系列的表单组成：PinMap（管脚定义）ChannelMap（通道映射关系定义）GlobalSpecs（全局参数设置）AC/DCSpecs（交/直流电平设置）Pinlevel（管脚电平设置）TimeSets(Basic)（时间参数设置）EdgeSets（边沿参数设置）TestInstance（测试实例）Characterization（特征扫描表）FlowTable（测试流程）
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路设计业的发展展望[J]. 殷亚云. 集成电路应用. 2020(04)
[2]集成电路测试设备之“中国崛起”[J]. 章诚,肖群稀. 杭州金融研修学院学报. 2018(12)
[3]电子测量误差分析研究[J]. 李鹏. 科技创新与应用. 2017(04)
[4]ATE通用校准设备的研究[J]. 纪明霞,周志刚,王翠珍,邵红. 仪表技术. 2015(03)
[5]ATE的校准与设计策略[J]. 董锁利,丁颖,张建兰. 工业计量. 2013(01)
[6]浅析计量检定与仪器校准的区别[J]. 王晓霞. 中国产业. 2012(09)
[7]J750型SOC测试系统校准技术概述[J]. 王耀国,王酣. 工业计量. 2011(02)
[8]数字集成电路测试系统测试结构及校准原理分析[J]. 贺志容,韩红星,刘文捷. 计算机与数字工程. 2010(09)
[9]一种数字IC测试系统的设计[J]. 廉海涛,张克农,王红雨,赵云鹏,常羽飞. 电子产品世界. 2004(03)
[10]仪器非线性自动校准系统[J]. 田社平. 计量技术. 1995(02)
硕士论文
[1]示波器校准仪自动校准软件设计[D]. 秦越.电子科技大学 2019
[2]基于智能拟合的自动校准技术研究与实现[D]. 喻霞.电子科技大学 2018
[3]IC测试仪数字通道板设计及同步技术研究[D]. 李飞.电子科技大学 2018
[4]数字集成电路测试仪测试通道电路设计[D]. 郝叶军.电子科技大学 2011
本文编号：3326466
【文章来源】：电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校
【文章页数】：73 页
【学位级别】：硕士
【部分图文】：
DIB板连接示意图
第二章集成电路测试仪及其校准7图2-2DPS供电原理图3）CUB板CUB板作为测试机控制的核心，主要提供数据的分发和回传，将数据分发至数字通道板和DPS板，并将下面各功能板上回传的数据接收转发至上位机。上面还有一些辅助控制位，在需要时可以设置传输相关控制信号。4）DIB板DIB（deviceinterfaceboard）板是连接IC测试仪与被测器件的一个接口板，一面与数字通道板、DPS板和CUB板上一些信号（数字通道信号、电源信号、控制信号等等）通过弹簧针（PogoPin）连接到DIB板上的弹簧焊盘（PogoPad）上；一面通过DUT（deviceundertest）插槽将这些相关信号接出并连接到被测器件上，供测试使用。如图2-3所示，每个数字通道板有上下两个弹簧针接口，通过这些接口把数字通道板上的相关信号连接到DIB板上。目前课题中的IC测试仪测试系统上的DIB板上有4个DUT插槽（SLOT0-SLOT3），单个DUT插槽上有64个数字通道。如图2-4所示。图2-3DIB板连接示意图
电子科技大学硕士学位论文8图2-4DIB板上的4个DUT插槽5）背板背板连接CUB板、数字通道板和DPS板，上面接入系统电源，并给CUB板和数字通道板提供插槽。2.1.2IC测试仪上位机软件2.1.2.1工程开发软件工程开发软件是执行IC测试仪测试的软件工具，是进行IC测试仪测试最直观、最主要的人机交互界面。用户将被测器件资料进行信息提取后，将测试管脚的信息及测试流程按照数据模板录入相应的表格中，然后控制数据的下发，并将测试结果输出。工程开发界面由一系列的表单组成：PinMap（管脚定义）ChannelMap（通道映射关系定义）GlobalSpecs（全局参数设置）AC/DCSpecs（交/直流电平设置）Pinlevel（管脚电平设置）TimeSets(Basic)（时间参数设置）EdgeSets（边沿参数设置）TestInstance（测试实例）Characterization（特征扫描表）FlowTable（测试流程）
【参考文献】：
期刊论文
[1]中国集成电路设计业的发展展望[J]. 殷亚云. 集成电路应用. 2020(04)
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[3]电子测量误差分析研究[J]. 李鹏. 科技创新与应用. 2017(04)
[4]ATE通用校准设备的研究[J]. 纪明霞,周志刚,王翠珍,邵红. 仪表技术. 2015(03)
[5]ATE的校准与设计策略[J]. 董锁利,丁颖,张建兰. 工业计量. 2013(01)
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[9]一种数字IC测试系统的设计[J]. 廉海涛,张克农,王红雨,赵云鹏,常羽飞. 电子产品世界. 2004(03)
[10]仪器非线性自动校准系统[J]. 田社平. 计量技术. 1995(02)
硕士论文
[1]示波器校准仪自动校准软件设计[D]. 秦越.电子科技大学 2019
[2]基于智能拟合的自动校准技术研究与实现[D]. 喻霞.电子科技大学 2018
[3]IC测试仪数字通道板设计及同步技术研究[D]. 李飞.电子科技大学 2018
[4]数字集成电路测试仪测试通道电路设计[D]. 郝叶军.电子科技大学 2011
本文编号：3326466
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