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集成相关双采样A/D芯片在星载设备中的应用

发布时间:2021-08-09 21:52
  随着航天遥感载荷的日益复杂,CCD成像电路中相关双采样芯片(CDS)和通用A/D芯片构成的模数转换电路已不能满足要求。提出了基于集成相关双采样电路和A/D电路的单芯片(AD9814)CCD模数转换电路方案,用于星载光谱仪设备。介绍了该方案的芯片选择、软硬件设计和实验电路构建,并进行了相关实验,结果表明此光学系统的信噪比优于12 bit,AD981.4的抗辐照指标为15 krad,所提出方案可用于航天工程。 

【文章来源】:量子电子学报. 2017,34(01)北大核心CSCD

【文章页数】:8 页

【部分图文】:

集成相关双采样A/D芯片在星载设备中的应用


图8中的电位器R2,就可以获得0?500?mV的仿真CCD信号,对应不同幅值的CCD模拟信号,??AD董,可以获得在〇?500?mV信号范围内的AD响应

曲线,模拟信号,电位器,幅值


n?n_?n?n?i门??channelone??1,?1?1?..?.?I?\?I.?L—J.?L__n,??Fig.?9?Real?CCD?waveform?and?the?third?phase?clock??―。h/VVWWWAAA??channei〇ne?_n__n_TLJT_rLJ ̄i_n_j ̄LrLrL_rL??Fig.?10?CCD?waveform?and?the?third?phase?clock?of?signal?generator??调整图8中的电位器R2,就可以获得0?500?mV的仿真CCD信号,对应不同幅值的CCD模拟信号,??测试得到相应的A/D输出数字董,可以获得在〇?500?mV信号范围内的A/D响应。因为示波器(Agilent??Technologies公司的DS09064A)的分辨率为10?bit,为了更好地测量仿真信号的精确值,使用示波器的多次??平均和自动测量功能来获取更高的测量精度。在65536次平均后,可以近似认为测量分辨率提高4?bit。??用示波器测量的不同CCD模拟信号幅值与AD9814响应作对比后,结果如表2所示。由表2可得A/D的??线性度曲线,如图11所示。??

【参考文献】:
期刊论文
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本文编号:3332864

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