雪崩光电二极管性能测试系统的研究

发布时间：2021-08-17 02:07

　　鉴于当前雪崩光电二极管（APD）测试平台存在设备冗杂、测试效率低等问题,设计了一套以现场可编程门阵列（FPGA）为控制核心,搭配高精度时间数字转换芯片TDC-GPX的APD性能测试系统,可实现APD性能参数的自动化测试。同时设计了一种稳定单光子脉冲信号输出方法,并提出了使用时间数字转换进行光子计数及数据处理、后脉冲参数计算的设计方案。通过实验验证,测试系统集成光源信号半峰全宽为46.6 ps,峰值幅度为304.4 mV,幅值抖动为3.7%,满足APD测试对输入单光子源的要求。该测试系统能够有效测试APD性能参数,测试效率得到了极大提升。 

【文章来源】：量子电子学报. 2020,37(03)北大核心CSCD

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【部分图文】：

图３所示，该模块实现激光器光强的衰减及出口光强的監控Ｗ，首先，ＤＦＢ激光器??


本文编号：3346841