基于差频检测技术的高速AD单粒子翻转评估方法研究

发布时间：2021-09-06 06:57

　　本文基于差频检测的原理,提出一种在高频动态输入模式下,对高速高精度模数转换器（AD）的抗单粒子翻转效应进行评估的测试方法,并以一款8位3GSPS高速AD为测试对象,设计开发了一套高速AD单粒子翻转效应测试系统,对目标器件进行了重离子试验。通过对试验结果的图像和错误数据进行分析,获得了参试器件的抗辐照性能参数,为抗辐照高速高精度AD的加固设计提供数据支撑。 

【文章来源】：中国航天电子技术研究院科学技术委员会2020年学术年会论文集航天电子发展战略研究中心会议论文集

【文章页数】：10 页

【部分图文】：

高速AD单粒子翻转效应错误截面图

FIFO＿1的错误数据的缓存方式如图5所示，当未出现错误时，使FIFO＿1始终处于半满状态，写入和读出速度相等，当检测到单粒子翻转错误时，FIFO＿1开始关闭读出，当FIFO＿1写满后将整个数据上传。选用FIFO＿1宽度为64 bit、深度为4 096，由写入到读出会有5个周期延时，因此当检测到FIFO＿1满时还有5个数据未进入，因此最终总上传数为4 091。3.2 软件设计

图1为差频测试示意图。当采样频率为1 GHz，输入信号为998.76 MHz，则输出1.24 MHz的缓慢正弦波。由于动态信号具有较高的频率，所以在AD的输入模块部分施加了更大的压力，因而更易在电路的模拟部分产生更长的瞬态脉冲。在差频测试时应当保证AD的输出在每个时钟周期的变化尽量小，若输出的变化很大，由于单粒子翻转引起的输出变化很小，则错误检测软件会检测不到。因此应使AD的输出变化小于最小分辨率，才能监测到更精确的单粒子翻转错误(图2)。

【参考文献】：
期刊论文
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硕士论文
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本文编号：3386979