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集成电路测试系统中大规模向量编译模块设计与优化

发布时间:2021-09-17 02:33
  集成电路测试系统时代广泛使用的测试方法是:集成电路测试系统读取测试向量,对被测芯片引脚施加输入激励,测试被测芯片引脚输出响应,比较输出响应与预期响应来判断被测芯片是否达标。测试向量行数数以百兆级别,所包含的测试内容十分复杂,因此采用支持存储、传递测试向量的码型文件作为输入是广泛使用的测试向量输入方式。本文集成电路测试系统中大规模向量编译模块设计与优化旨在将存储海量测试向量的码型文件转换为测试仪可执行二进制文件。在设计过程中,根据软件设计高内聚低耦合的设计原则,本论文采用分模块设计和控制反转接口设计的思想,确保程序的可读性和扩展性。本文的主要研究内容如下:1.针对海量测试向量存取速度慢的问题,设计测试向量存储格式;根据设计格式的特点,比较二进制格式和HDF5格式文件存储测试向量的优缺点;选定HDF5格式作为本文测试向量文件的目标格式。2.针对海量测试向量编译过程中速度慢、内存占用大的问题,本文对比了语法分析树和无缓冲嵌入动作两种方案。经过性能分析和实验对比提出了混合实现方案,对码型文件中占据大量计算的向量声明区采用内存占用和计算量均较小的无缓冲嵌入动作方法;对码型文件中其余描述性功能区采... 

【文章来源】:电子科技大学四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直属院校

【文章页数】:76 页

【学位级别】:硕士

【部分图文】:

集成电路测试系统中大规模向量编译模块设计与优化


RL、RH格式下测试波形

界面图,调试器,向量,界面


第二章软件需求分析以及总体方案11图2-5RL、RH格式下测试波形本文中测试向量的输入有以下两种来源途径,一是用户在显控软件向量调试器键入测试向量信息,二是用户编撰ASCII码型文件存储向量信息。两种方式最后均要转换为驱动程序可直接读取的向量文件格式。两种方式如图2-6、2-7所示:对比以上两图可知,图2-6向量调试器界面与图2-7ASCII码型文件向量格式包含信息一一对应。(1)Vector列描述了向量行行号,且第一向量行行号为0;(2)TimeSet列描述向量行所使用的时序设置,且TimeSet列最多有128个时序设置,其中TSB0为一个;(3)Label列为向量行设置标签,“L1”代表0向量行;(4)Opcode列描述了向量行操作信息,jump(L1)表示执行到2行便跳转到0行执行;(5)P0~P5列描述了被测引脚对应的测试向量字符。图2-6向量调试器界面

数据流程图,数据流程图,词法,遍历


第三章扫描链功能设计与实现27本文采用深度优先遍历、广度优先遍历两种遍历机制混合方式设计语法规则文件,对码型文件中占据大量计算的向量声明区采用内存占用较小的深度优先遍历;对码型文件中其余描述性功能区采用结构更明晰的广度优先遍历。3.1.2.2词法分析ANTLR4词法分析器又称词法符号生成器负责分析词法,将输入的字符序列分解成一系列词法符号[27]。词法符号是一门语言的基础词汇符号,它们可以是代表标识符一类的符号,也可以是代表一个单一的运算符,或者是代表一个关键字。例如一个简单的赋值语句:sp=100;该赋值语句由四个词组组成:变量名“sp”、赋值符号“=”、变量值“100”和语句结束符“;”。该赋值语句数据流程图如图3-6所示。图3-6数据流程图根据上图词法符号划分方式将扫描引脚声明区、扫描向量声明区语法规则进行词法符号划分如表3-2所示:表3-2词法符号词组描述表达式scan_pin扫描引脚([0-9])?[a-zA-Z][a-zA-Z0-9_]*bit_used引脚模式"1bit"|"2bit"cycles扫描向量深度[1-9][0-9]*scan_pin_type扫描引脚类型"si"|"so"radix扫描向量格式"S"|"X"|"H"scan_data扫描向量"0"|"1"|"2"|"L"|"H"|"M"|"X"|"V"|"["|"-"|"]"|"[a-zA-Z0-9]"本小节讲述了语法规则文件的设计。首先设计了描述扫描链功能的测试语言,然后根据测试语言从深度优先遍历、广度优先遍历两个遍历机制进行分析,并设计了扫描引脚声明区、扫描向量声明区的语法表达式和词法表达式。

【参考文献】:
期刊论文
[1]一种多功能数字式晶体管图示仪的设计[J]. 王龙,柴志军.  黑龙江大学工程学报. 2021(02)



本文编号:3397783

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