太赫兹波在绝缘材料测厚中的应用

发布时间：2021-10-12 10:52

　　太赫兹波在绝缘介质中的传播速度与折射率相关,在材料折射率已知的情况下,通过太赫兹波的时延特性可实现材料的厚度测量。电网设备中的许多绝缘部件由于结构不规则、不能破坏,其厚度难以用常规方法直接测量,而太赫兹波的特性使其具有一定的适用性。文中结合传播模型分析了太赫兹波传播过程中多次反射波的叠加效应,测试了不同厚度的硅橡胶、环氧玻纤平板材料的透射波与反射波特性,分析了太赫兹时域波形在介质中传播的时延、衰减与介质厚度的关系,提出了在透射和反射两种模式下绝缘材料厚度测量的方法。研究表明,太赫兹透波在绝缘材料的厚度测量中有较高的精度,可应用在材料测厚、护套均匀性测试等场合。 

【文章来源】：高压电器. 2020,56(05)北大核心CSCD

【文章页数】：7 页

【部分图文】：

太赫兹波传播模型

空气与硅橡胶的时域透射波波形

由于样品对于太赫兹波存在折射率，大于空气中的折射率，因此介质中的太赫兹波速小于空气中的波速。波形时延的产生过程见图3。图3中，d1为样品平板厚度。太赫兹波透射检测的时间差、平面介质厚度和折射率之间的关系用式(3)来表示[20-22]

【参考文献】：
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本文编号：3432435