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基于小波变换的平板波前死条纹噪声滤除方法

发布时间:2021-11-21 10:10
  高功率激光器的建造需要大量的高精度光学平板,其波前检测一般采用相移干涉技术。由于测试光在光学平板内的多次反射,存在由寄生干涉导致的死条纹现象。死条纹会在波前检测结果中引入周期性相位噪声,极大降低了波前检测结果的置信度。针对该问题,提出了一种基于小波变换的降噪方法,可根据死条纹噪声特征对波前检测结果进行降噪,不需要额外硬件或调整测试状态。实验结果表明,该方法可以有效滤除死条纹引入的相位噪声,且能很好地保留加工特征。 

【文章来源】:中国激光. 2020,47(09)北大核心EICSCD

【文章页数】:9 页

【部分图文】:

基于小波变换的平板波前死条纹噪声滤除方法


PSI测量平板透射波前示意图。

路径图,透射波,光线,路径


理想平板中测试光线的路径

路径图,光线,路径,倾斜角


考虑平板非理想状态下的情况,为补偿平板引入的光程差以得到零条纹,需将RF倾斜较小角度,记倾斜角为ε。若RF的倾斜方向与平板倾斜方向相反,经RF反射后光线入射平板的入射角为θ+2ε,此时,测试光的光线路径如图3所示。其中,d(x,y)为非理想平板的厚度分布,n(x,y)为非理想平板的折射率分布,当折射率变化很小时,可认为n(x,y)为常数n。若RF的倾斜方向与平板倾斜方向相同,经RF反射后光线入射平板的入射角为θ-2ε。D(x,y)为平板与RF的距离,θ′为θ相应的一次折射角,θ″为θ+2ε相应的二次折射角,根据折射定律,θ′与θ″满足由于RF的倾斜角为ε,返回光线T0的出射位置会偏离入射位置,即由图3中(x,y)偏离到位置(x′,y)。考虑到平板厚度的变化通常为μm量级,而平板的平均厚度通常为10 mm量级,因此,在计算光线的径向移动时,可忽略平板厚度的变化,即认为d(x,y)为常数。另外,由于入射角θ通常为1′量级或更小,RF倾斜角ε通常为0.1′量级或更小,故可忽略不同位置处平板与RF间距的差异,即认为D(x,y)也为常数。令平板不同位置的厚度均为d,平板不同位置到RF的距离均为D,则偏离量Δ=2[d+D]sin ε。由于入射角θ非零,返回光线T1、T2相对返回光线T0会发生径向错位,即由图3中的(x′,y)错位到(x′1,y)与(x′2,y),错位量δ=dsin θ-dcos θtan θ′。按D=10d、RF的倾斜角ε=0.1′进行估计,得到偏离量Δ=3.2×10-4d。按平板折射率n=1.457、入射角θ=1′进行估计,得到错位量δ=9.1×10-5d。按平板口径A=20d,平板口径对应像素数为500进行估计,得到PSI的像素尺寸L=4.0×10-2d。

【参考文献】:
期刊论文
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硕士论文
[1]高功率激光束中高频位相畸变特性的研究[D]. 刘红婕.中国工程物理研究院 2005



本文编号:3509307

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