基于光频谱分析的高精度FBG阵列参数的检测

发布时间：2022-08-08 20:51

　　生产后期对半成品FBG阵列进行参数校正可有效降低成品FBG阵列的参数误差。分别应用光纤模式耦合理论和光傅里叶变换分析FBG阵列的频谱特性,比较半成品FBG阵列的频谱特性与目标特性的误差,通过VSLMS算法迭代更新FBG阵列的参数值,使其频谱特性不断接近理想曲线直至误差满足设置值。应用两种频谱分析方案分别对单FBG、二阶FBG及四阶FBG阵列的频谱特性进行分析,结果显示模式耦合理论分析比傅里叶变化分析性能更优,分别使FBG阵列制作误差降低至-43.6 dB、-33.6 dB、-24.6 dB,相比傅里叶变化分析分别提高了36.7 dB、30.4 dB、22.5 dB,其分析优化程度随着FBG阵列中FBG个数的增加而降低。 

【文章页数】：6 页

【文章目录】：
1 引 言
2 FBG阵列特性的分析
    2.1 FBG的模式耦合理论[16,17]
    2.2 FBG的傅里叶变换分析[19]
3 VSLMS算法的误差修正[20]
    3.1 基于模式耦合的FBG阵列参数的最小均方差误差梯度
    3.2 基于傅里叶变换分析的FBG阵列参数的最小均方差误差梯度
4 结果与讨论
5 结 语


【参考文献】：
期刊论文
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本文编号：3672206