基于UVM的Flash控制器模块验证

发布时间：2022-08-10 19:43

　　IC作为电子信息产业的基石,在现代社会发展中占据着举足轻重的地位。随着So C（System on Chip）设计的集成度和复杂度的日益攀升,芯片验证在整个芯片研发过程中所占的比重也在日益增加,但芯片验证技术却并未跟上So C发展的步伐,这使得芯片设计周期被拉长,大大增加了芯片研发成本。所以,研究一种先进高效的芯片验证方法已迫在眉睫。芯片验证的核心是验证方法学,UVM（Universal Verification Methodologhy）作为芯片验证行业最新的验证标准,综合了VMM（Verification Methodology Manual）和OVM（Open Verification Methodology）的优点,是一套高效的验证环境开发库。NAND Flash（与非性闪存）作为一款兼具非易失性、存储容量大和读写速度快等优点的存储器,在存储领域的应用越来越广泛。文章基于So C芯片设计的Flash控制器的特点,采用UVM对固态硬盘中的Flash控制器模块进行可重用的模块级验证仿真,确保控制器模块的设计符合规范。本文首先分析了UVM验证方法学的发展现状,指出了UVM验证方法学的... 

【文章页数】：68 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论
    1.1 选题背景与意义
    1.2 国内外研究状况
    1.3 本文主要研究内容和章节安排
第二章 验证方法学
    2.1 验证基础理论
    2.2 SystemVerilog语言
    2.3 UVM验证方法学
        2.3.1 验证平台
        2.3.2 验证平台组件
        2.3.3 UVM的类库
        2.3.4 UVM的树形结构
        2.3.5 UVM中的transaction
        2.3.6 UVM中的factory机制
        2.3.7 UVM中的objection机制
        2.3.8 UVM中的phase机制
        2.3.9 UVM中的sequence机制
        2.3.10 UVM中的寄存器模型
    2.4 本章小结
第三章 Flash控制器模块的UVM验证方案
    3.1 硬件设计框架
        3.1.1 Flash控制器模块架构
        3.1.2 Flash系统
    3.2 Flash控制器模块功能介绍
        3.2.1 支持主机访问
        3.2.2 支持多Plane操作
        3.2.3 支持多CE写入
        3.2.4 支持CRC校验
    3.3 Flash控制器模块的状态机设计
        3.3.1 写入数据状态机
        3.3.2 读取数据状态机设计
        3.3.3 擦除数据状态机设计
        3.3.4 设置模块状态机设计
    3.4 Flash控制器模块的UVM验证方案
        3.4.1 验证策划
        3.4.2 验证方案架构
    3.5 本章小结
第四章 UVM验证组件的实现
    4.1 UVM验证平台的transaction
    4.2 UVM验证平台的interface
    4.3 UVM验证平台的sequence机制
        4.3.1 UVM验证平台的sequencer
        4.3.2 UVM验证平台的sequence
    4.4 UVM验证平台的driver组件
    4.5 UVM验证平台的monitor
    4.6 UVM验证平台的referencemodel
    4.7 UVM验证平台的scoreboard
    4.8 UVM验证平台的agent
    4.9 UVM验证平台的env
    4.10 UVM验证平台的base_test
    4.11 UVM验证平台的top
    4.12 本章小结
第五章 Flash控制器模块的验证仿真
    5.1 测试用例及仿真
        5.1.1 冒烟测试
        5.1.2 读写功能测试
        5.1.3 ECC纠错功能测试
    5.2 验证平台覆盖率
    5.3 Flash控制器模块应用实物图
    5.4 本章小结
第六章 总结与展望
    6.1 总结
    6.2 展望
参考文献
致谢
附录


【参考文献】：
期刊论文
[1]面向NAND Flash存储的纠错编码技术概述[J]. 彭福来,于治楼,陈乃阔,耿士华,毕研山.  计算机与现代化. 2017(11)
[2]基于贪婪策略的NAND FLASH存储器的磨损均衡算法研究[J]. 贾鑫,张少平.  计算机科学. 2017(S2)
[3]用于NAND FLASH的纠检错算法的FPGA实现[J]. 郑晶晶,袁素春,王娜,孙钰林.  空间电子技术. 2017(05)
[4]NAND闪存市场持续高涨,2020年将超DRAM[J]. 迎九.  电子产品世界. 2017(10)
[5]关于NAND闪存损耗均衡算法的优化[J]. 赵峰,刘博妍,朱戈.  南华大学学报(自然科学版). 2017(03)
[6]基于SystemC和SystemVerilog的联合仿真平台设计[J]. 卢艳君.  科学技术创新. 2017(27)
[7]存储测试系统中FLASH的存储可靠性技术研究[J]. 高阳,王代华,王晓楠.  现代电子技术. 2017(18)
[8]基于UVM高速SERDES的数字系统验证[J]. 徐波.  电子科学技术. 2017(05)
[9]UVM和Matlab的联合仿真方法及应用[J]. 张少真,成丹,刘学毅.  中国集成电路. 2017(09)
[10]基于UVM实现SD存储控制器的功能验证[J]. 牛玉坤,孟令琴.  工业控制计算机. 2017(08)

博士论文
[1]基于闪存的索引机制研究[D]. 杨程程.中国科学技术大学 2017

硕士论文
[1]基于UVM技术的I~2S验证IP的研究[D]. 袁琳.合肥工业大学 2017
[2]基于UVM的EMMC控制器模块验证[D]. 刘丽丽.杭州电子科技大学 2017
[3]基于UVM的射频基带电路验证平台的设计与实现[D]. 叶海荣.中国科学院大学(工程管理与信息技术学院) 2016
[4]NAND Flash错误特性模型及应用研究[D]. 王世元.哈尔滨工业大学 2016
[5]基于NAND Flash阵列的高速大容量图像存储器设计[D]. 江旭东.中北大学 2016
[6]UVM验证方法学在SSD主控SoC芯片验证中的应用[D]. 桂玮楠.东南大学 2015
[7]面向DSP芯片统一验证平台的研究与实现[D]. 欧明双.合肥工业大学 2009



本文编号：3674246