硅衬底LED可靠性测试与寿命模型的研究

发布时间：2022-12-08 06:46

　　近些年来,半导体照明在工业领域和日常生活中的应用越来越广泛,并且成为了学术研究的热点。GaN基LED的衬底材料主要有蓝宝石、碳化硅、硅三种,而硅衬底LED相比其他两种具有低成本、导电好、热导率高等优点,但是对于硅衬底LED的研究比较少。另外,硅衬底LED的可靠性关系着产品工艺的改进和产业化,其寿命又是LED可靠性的终极表现形式,因此对硅衬底LED可靠性测试和寿命模型的研究显得尤为重要。针对以上原因,本文进行了如下几方面的研究工作:1.本文搭建了一套LED的可靠性自动测试系统,将LED的光、色、电、热参数的测试有机结合起来,编写PC端软件,实现LED测试的自动化控制。另外在LED温度控制方面,设计了一种多路隔离的Modbus协议转换器,能够将多个温箱接入以太网进行异地控制,提高了试验效率。这套测试系统为硅衬底LED的可靠性测试和寿命预测研究提供了数据支撑。2.本文以硅衬底LED的LM-80-08测试数据为基础,提出了基于遗传算法优化的BP神经网络的LED寿命预测模型,将LM-80-08测试报告中的电流、结温、初始光通量和初始色坐标作为网络的输入,LED在该种应力条件下的寿命为输出,可以预... 

【文章页数】：90 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图１－１器件洛盆曲线规律??由图１－１的曲线可以看出，器件的失效大体分为三个阶段，下面进行简单的介??－

图２－１恒定应力试验??

图２－２步进应力试验??３．序进应力加速寿命试验??


本文编号：3713764