一种集成电路测试流程分级动态调整方法

发布时间：2023-04-03 05:06

　　针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.

【文章页数】：8 页

【文章目录】：
1 引言
2 电路测试流程分级动态调整方法描述
    2.1 主要思想
    2.2 算法描述
        2.2.1 初始化
        2.2.2 初步排序
            (1)测试类型排序
            (2)测试向量排序
        2.2.3 动态调整
3 实验结果
    3.1 仿真实验
    3.2 集成电路实验
4 结论



本文编号：3780719