基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究

发布时间：2023-04-29 00:42

　　超大规模集成电路、高密度芯片封装技术以及多层印制板的出现,使得集成电路引脚和芯片内部逻辑的物理可访问性正在逐步减弱以至于消失,常规的探针已逐渐无法使用。另一方面随着市场对电子产品质量可靠性要求越来越严格,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升,常规的测试方法正面临着日趋严重的困难,边界扫描测试技术的出现正解决了这一难题。本课题顺应当前电路测试发展的研究趋势,并结合公司的实际生产需求,对边界扫描测试技术,尤其是测试矩阵生成算法进行了深入研究。论文首先研究了边界扫描技术相关基本理论,对边界扫描测试的类型进行了分析,将研究重点放在互连测试。针对互连测试进行了相关概念数学化分析,并对电路中的故障建立数学模型,同时,为方便测试算法生成测试矩阵的分析,对短路故障模型优化处理,通过数学推导分析,优化的故障模型在复杂性和故障数量等方面对边界扫描算法分析具有更优越的效果。然后针对互连测试的测试矩阵生成算法进行了研究,现有单步算法的检测性能相对较差,往往不能完成较高的测试要求。分析各单步算法的性能指标,并结合现有自适应算法的分析思想,分别从初级测试,测试结果分析,次级测试对W算法进行优化处理。另外...

【文章页数】：71 页

【学位级别】：硕士

【文章目录】：
摘要
Abstract
第1章 绪论
    1.1 研究背景和意义
        1.1.1 研究背景
        1.1.2 研究意义
    1.2 国内外研究现状与发展趋势
        1.2.1 边界扫描技术标准的发展
        1.2.2 测试算法研究的发展
        1.2.3 边界扫描测试系统及软件的发展
    1.3 课题研究内容与论文架构
        1.3.1 研究内容
        1.3.2 论文结构概要
第2章 边界扫描技术的理论研究
    2.1 边界扫描测试的基本概述
        2.1.1 BST的基本原理
        2.1.2 边界扫描测试类型
        2.1.3 边界扫描描述语言
    2.2 板级互连测试
        2.2.1 互联测试的连接结构
    2.3 测试生成的数学基础
        2.3.1 基本概念的数学描述
        2.3.2 测试故障的数学分析
        2.3.3 边界扫描测试的数学模型
    2.4 可测试性设计理论
    2.5 本章小结
第3章 边界扫描测试算法的分析与研究
    3.1 测试算法优化指标
        3.1.1 紧凑性指标分析
        3.1.2 完备性指标分析
    3.2 测试矩阵生成策略比较
    3.3 现有算法分析研究
        3.3.1 现有的单步算法
        3.3.2 现有自适应算法
    3.4 优化的自适应算法
        3.4.1 改进算法的描述
        3.4.2 改进算法的性能分析
    3.5 本章小结
第4章 边界扫描测试设计
    4.1 边界扫描测试系统结构
    4.2 板级可测试性设计
        4.2.1 一般非边界扫描结构器件的设计
        4.2.2 可编程器件的设计
    4.3 测试系统控制模块设计
        4.3.1 边界扫描逻辑模块
        4.3.2 模拟网络故障的设计
        4.3.3 测试矩阵生成模块
    4.4 测试验证结果及分析
    4.5 本章小结
结束语
参考文献
攻读硕士学位期间发表的学术论文
致谢



本文编号：3804812