锁相环电路的可测性设计研究

发布时间：2023-12-13 20:16

　　锁相环广泛应用于频率合成、时钟分配、相位解调以及时钟恢复等,是无线通信、光纤链路、射频收发机及微型计算机等必不可少的一部分,其可测性设计对于确保整个电子系统的性能具有重要意义。常规锁相环可测性方法将结构测试和性能测试分离,导致测试需要复杂的外部测试仪器来验证待测锁相环的性能,或者不能检测锁相环中是否存在故障;且测试电路较为复杂,面积开销大。将两者分离测试需要较高的测试成本和较长的测试时间,降低了测试技术工程应用的价值。而当前少数几种能够同时完成结构测试和性能评估的锁相环可测性方法大多采用相互独立的测试结构,致使测试电路更加复杂,面积开销甚至可能超过待测锁相环电路的芯片面积,成本较高,且其故障覆盖率和测试分辨率仍有待提高。因此本文从兼顾结构测试和性能评估的锁相环可测性方案出发,重点研究了用同一个具有较高故障覆盖率和抖动测量分辨率的可测性电路同时完成锁相环的片上故障检测和抖动测量。本文的主要工作及创新点包括:(1)研究了电荷泵锁相环结构中故障与抖动的关系,分别从系统理论模型,行为级模型和晶体管级模型入手,定性定量分析了故障对抖动的影响。(2)提出了一种兼顾结构测试和性能评估的锁相环可测性结...

【文章页数】：130 页

【学位级别】：博士

【文章目录】：
摘要
ABSTRACT
第一章 绪论
    1.1 论文研究背景和意义
    1.2 国内外研究现状
    1.3 论文主要工作和创新点
    1.4 论文的结构
第二章 锁相环可测性概述
    2.1 锁相环的结构设计和性能指标
    2.2 锁相环的可测性综述与分析
    2.3 锁相环可测性方法总结
    2.4 本章小结
第三章 兼顾结构测试和性能评估的锁相环可测性研究
    3.1 锁相环可测性系统研究与设计
    3.2 待测锁相环的研究与设计
    3.3 锁相环可测性设计结构中故障对抖动影响的研究分析
    3.4 本章小结
第四章 锁相环DFT结构中故障测试技术的研究与设计
    4.1 锁相环故障测试原理
    4.2 锁相环片上故障测试技术研究
    4.3 锁相环故障测试结构设计与验证
    4.4 本章小结
第五章 锁相环DFT结构中抖动测量技术的研究与设计
    5.1 锁相环抖动测量原理
    5.2 锁相环片上抖动测量技术研究
    5.3 锁相环抖动测量方案分析
    5.4 锁相环抖动测量结构设计与验证
    5.5 本章小结
第六章 锁相环DFT电路的验证与结果分析
    6.1 锁相环DFT电路设计
    6.2 锁相环DFT电路验证和分析
    6.3 本章小结
第七章 总结和展望
    7.1 论文总结
    7.2 展望
致谢
参考文献
博士阶段获得的研究成果



本文编号：3873896