集成电路多类型故障测试向量集优化问题研究

发布时间：2024-02-02 17:13

　　随着信息时代的飞速发展,集成电路已被广泛应用于民用、商用、军用等多个领域,与此同时,集成电路测试作为保证集成电路质量的重要环节之一,变得越来越重要。集成电路需求及其工艺的不断提升,电路规模和设计复杂度的日益增大,不仅造成集成电路故障测试向量集生成愈发困难,同时造成获得的集成电路故障测试向量集规模不断增长。在生成的集成电路故障测试向量集中往往含有大量冗余测试向量,造成集成电路测试时间增加的同时,增加了集成电路测试的成本。因此,集成电路故障测试向量集优化问题逐渐为国内外学者所重视。本文深入研究多种现有测试向量集优化算法并分析算法的优缺点后,提出基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集优化方法。该方法通过建立故障集与测试向量集中每个测试向量的对应关系,重新建模,将测试向量集优化问题转化为最小集合覆盖问题求解。根据最小集合覆盖问题的现有求解方式,相较于精确求解方法,该方法采用更适合大规模问题的启发式求解方法,以自动测试向量生成工具TetraMAX ATPG生成的测试向量集为基础,实现对测试向量集规模的约简,并通过实验说明其可行性。此外,在进一步研究多故障测试向量集优化方法的基础上,本文提出结合融合...

【文章页数】：64 页

【学位级别】：硕士

【部分图文】：

图1-1集成电路测试流程图

第1章绪论1第1章绪论1.1研究背景在电子产品广泛覆盖的今天，集成电路已被广泛应用于人民生活、科学研究、国防建设、经济发展等各个领域。而随着微电子技术的进步、半导体工艺的提升以及电路规模的日益增大，集成电路的集成度日益提高，其结构随之变得越来越复杂，使得集成电路测试变得愈发困难，....

图2-1测试向量生成基本原理

第2章测试和最小集合覆盖相关概念8量不能检测该故障。根据这一原理，可知一个测试向量可能覆盖多个故障，一个故障也可以被多个测试向量覆盖。图2-1测试向量生成基本原理在集成电路测试中，为衡量ATPG方法生成的测试向量集的优劣，其中一个重要参数就是故障覆盖率[23]。定义2.1故障覆盖....

图2-2RWLS方法局部搜索求解流程图

第2章测试和最小集合覆盖相关概念13预处理阶段作为RWLS方法的一个重要部分，其目的是保证禁忌策略的有效性，对元素集合E中每个元素，检查能够覆盖该元素的集合的个数，若该元素被覆盖次数仅为1，即代表覆盖该元素的集合一定会被放入候选解中，则该元素可以从原问题中移除。局部搜索求解阶段作....

图3-1故障列表与故障族获取流程图

第3章基于最小集合覆盖的测试向量集优化21图3-1故障列表与故障族获取流程图此外，对于测试向量集优化问题来说，根据定义3.7，必然测试向量一定包含于最优完备测试向量集中。因此，在测试向量集优化这一最小集合覆盖实例问题中，在预处理步骤，CTPSS方法将所有必然测试向量予以标记后，添....

本文编号：3892871