基于Taguchi方法的柱面LED阵列照度问题研究

发布时间：2024-02-19 11:19

　　为了分析机器视觉测量系统中LED阵列对柱面底板照度的影响因子,采用Taguchi实验方法设计实验,对环形、方形、菱形LED阵列不同接收面半径、发光半角、发光面与接收面的距离因素进行分析。结果表明:利用Taguchi方法可以很快地找出辐照均匀度较大和最大的照度值,单颗LED的发光半角对辐照均匀度及最大照度的影响最大,分别占有66. 18%和63. 10%的影响地位。单颗LED的发光半角越大,其阵列的辐照均匀度越高,单颗LED的发光半角越小,其阵列光线比较汇聚,阵列最大照度值更大。

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【部分图文】：

图1(a)环形LED阵列(b)方形LED阵列(c)菱形LED阵列(d)圆柱形目标面的投影图

常见的LED阵列有方形、圆形和菱形LED阵列，接收面为柱面如图1(a)(b)和(c)所示:图1(d)为柱面在XOZ方向的投影图，投影曲线为一段圆弧，其半径为R，圆弧对应的中心角为2α，将其等分成M个采样角，每个采样角的大小为，其中Z1为柱面中心到LED阵列面的距离。假设在柱面上任....

图2各水准对应的照度均匀度(a)和最大照度(b)的信噪比

其中其中yi表示第i次实验的品质特性，n为实验次数。下图2为各水准对应的信噪比:4.2增补实验数据分析

本文编号：3902604