基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究

发布时间：2024-03-10 13:16

　　基于统计学思想,提出了寿命预测过程的逆向检验方法,通过Shapiro-Wilk检验验证试验数据的分布特性,通过方差齐性分析检验实验过程老化机理一致性,通过显著性检验对回归方程的显著性进行检验。文章将该方法应用于光电耦合器的寿命预测过程,通过提出的逆向检验方法验证后,所得预测结果与生产厂家提供的参考寿命接近。实验结果表明该方法能够有效地检验试验数据和评估模型的适用性,进一步提高光耦寿命预测的准确性,同时该方法对其他器件的寿命预测也具有一定的借鉴价值。

【文章页数】：8 页

【部分图文】：

图1单个光耦测试电路

每种产品一般都会存在多种失效过程,而且每种失效过程是由特定的失效机理所决定的,其失效过程会随着失效机理的变化而变化[24],经过大量学者的研究表明,电流传输比(CTR)作为评价光耦老化最重要的参数,是受光部件的集电极电流与LED驱动电流之比,其单个光电耦合器的测试原理图如图1所示....

图2光电耦合器寿命试验系统组成

寿命试验系统如图2所示,电路图如图3所示。4.2加速老化试验数据采集

图3光电耦合器寿命试验电路图

在对上述试验数据进行分析之前,需对其分布类型进行验证,看其是否满足对数正态分布。根据4.1节的介绍,考虑到样本数量较少,选取Shapiro-Wilk检验对表2的时间对数数据进行正态性检验,根据3.1节的验证步骤得到检验结果见表4。可见试验数据正态性检验的显著性水平均远大于给定的显....

本文编号：3924850