低色温无荧光粉LED光源的可靠性研究
【文章页数】:66 页
【学位级别】:硕士
【部分图文】:
图4不同老化应力下色温改变量随老化时间的变化曲线。
工作电压的改变和LED芯片性能紧密相关,为探究长时间高温老化对LED芯片性能的影响,我们对正向电压的变化进行了研究。图5所示为电压改变量随老化时间的变化曲线。由图可见在两个不同的老化功率下,3种样品在整个老化过程中的电压变化趋势相差不大,老化至2000h电压变化量均在0.05....
图1(a)低色温无荧光粉LED光源两串两并电路;(b)壳体温度测量点T。
温度步进应力实验中所有样品的老化电流均为400mA,将烘箱温度设置从100℃开始以20℃或者10℃为步长逐渐升温。样品在每个温度点维持点亮12h,然后降至室温进行光电性能测试。每种样品各取4只进行老化。实验中用热电偶测量铝基板上固定点的温度作为壳体温度,测量位置如图1(....
图35.5W老化功率下光谱曲线随老化时间的变化
光谱中不同波段衰减的差异会导致光源色温的变化,可能会引起照明品质的下降,为此我们研究了老化过程中色温的变化。所有样品在20A/cm2的工作电流密度下老化时,色温均保持稳定,老化2000h后色温改变量不超过±30K。下面给出了样品在3.6W和5.5W下老化的色温变化情况....
图2不同老化应力下的光通量随老化时间的变化曲线
得到不同样品在老化过程中的光谱变化规律后,可以进一步分析样品的失效机理。从图2(b)可以看出,当老化电流密度为50A/cm2时,3种样品在老化过程中有不同程度的光通量衰减。样品A的光通量在整个老化过程中缓慢下降,这主要是因为在高温大电流应力下随着老化的进行,在LED有源区内缺陷....
本文编号:3964267
本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3964267.html