CCD探测型共聚焦显微成像横向分辨率优化

发布时间：2017-06-11 00:02

  本文关键词：CCD探测型共聚焦显微成像横向分辨率优化，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：电荷耦合器件(CCD)探测型共聚焦显微成像是近年来共聚焦成像的新方法,其成像横向分辨率除受物镜数值孔径影响外,还与成像探测方点扩展函数分布区域中实际采用的CCD像元密切相关。用CCD取代传统共聚焦成像中的针孔和点探测器,选取点扩展函数分布区域中一定组合的CCD像元合成等效针孔,在合成针孔为不同尺寸时分别比较系统的横向分辨率,得到优化的合成针孔,通过对不同合成针孔获得的图像加权相减,实现消减成像,进一步提高横向分辨率。实验得出:当合成针孔尺寸为艾里斑直径0.8倍时(8pixel×8pixel),扫描图像同时具有较高的横向分辨率和信噪比;当用优化针孔(8pixel×8pixel)与较大针孔(10pixel×10pixel)图像加权相减时,权重系数取0.6时获得的消减图像横向分辨率相对于优化针孔图像提高了21.7%。CCD探测型共聚焦成像方法大大降低了传统共聚焦成像系统的装调难度,通过选取优化的合成针孔并进行消减成像可以提高成像的横向分辨率。
【作者单位】： 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所江苏省医用光学重点实验室;中国科学院大学;
【关键词】： 显微 共聚焦 消减成像 合成针孔 电荷耦合器件相机
【基金】：国家重大科研装备研制项目(ZDYZ2013-1) 江苏省六大人才高峰资助项目(2012-swyy-020) 苏州应用基础研究计划项目(SYG201510)
【分类号】：TN386.5
【正文快照】： 2中国科学院大学,北京100049111801-1激光扫描共聚焦显微镜[1-2]是研究微细结构的有效技术手段,是目前国内外科研单位开展生物医学研究和工业检测的重要工具。共聚焦显微镜采用精密针孔滤波技术,有效地抑制了非聚焦平面的杂散光,具有层析成像能力和很高的成像信噪比;同时系统

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1 周天文,翟晓明;脉冲激光测距仪横向分辨率的分析[J];激光技术;1988年02期

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本文编号：440278