基于UVM的验证平台设计研究

发布时间：2017-06-28 20:21

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【摘要】：提出了一种采用UVM(Universal Verification Methodology)验证方法学设计出的适合超高频RFID芯片解码系统的验证平台.该验证平台相比于传统验证平台具有重用性强、层次化合理、效率高、验证自动化等优点,且该验证平台以覆盖率驱动,显著提高了验证的效率和质量.现该验证平台已成功应用于一款超高频RFID标签芯片解码系统的设计验证,得到了期望的覆盖率,满足设计要求.
【作者单位】： 南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室;
【关键词】： UVM RFID 验证平台 覆盖率 DUT
【基金】：江苏省高校自然科学研究重大项目(13KJA510005) 江苏省物联网和新一代信息技术研发及产业化项目 江苏省科技支撑计划-工业部分(BE2013008-3)
【分类号】：TN402
【正文快照】： 1引言随着集成电路技术的不断发展,芯片的规模和复杂度在快速提升,这对验证提出了更高的要求.芯片的一次流片成功率很大程度上取决于验证的充分性[1].所以,验证已经成为芯片设计的发展瓶颈.传统的功能验证方法,是针对被测设计(DesignUnder Test,DUT)的信号接口,手工编写测试向

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本文编号：495146