基于UVM验证方法学的纵向可重用研究

发布时间：2017-06-30 02:02

  本文关键词：基于UVM验证方法学的纵向可重用研究，由笔耕文化传播整理发布。

【摘要】：现在片上系统(SOC)的复杂度和集成度越来越高,这给验证带来了巨大的挑战.传统的验证方法存在各种不足,在效率方面已经远远达不到生产的要求.UVM是近年来兴起的一种高效的通用验证方法学,不仅可以缩短验证周期,而且具有很好的可重用性.UVM验证方法学的可重用主要分为横向的可重用和纵向的可重用,主要阐述了UVM中纵向可重用的方法,并以APB总线为例,描述了从模块级到系统级的验证平台的搭建方法,这种方法很好地体现了纵向重用提高验证效率的优势.
【作者单位】： 中国科学院微电子研究所;
【关键词】： UVM 纵向可重用 APB总线
【分类号】：TN47
【正文快照】： 1引言随着超大规模集成电路设计复杂度和集成度的提高,集成电路的验证也面临着巨大的挑战.在芯片的研发过程中,在验证上所花费的时间占到了整体时间的70%[1],芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节.传统的验证语言存在抽象建模能力不足,扩展和维护很难,缺少带约束的随机激励

【参考文献】

中国硕士学位论文全文数据库 前1条

1 李博;基于SystemVerilog-VMM的仿真环境设计及其应用[D];哈尔滨工业大学;2009年

【共引文献】

中国硕士学位论文全文数据库 前1条

1 赵唯唯;面向无线传感器网络的UVM验证方法应用研究[D];西安电子科技大学;2014年

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前1条

1 ;更佳的UVM配置[J];电子设计工程;2011年10期

  本文关键词：基于UVM验证方法学的纵向可重用研究，，由笔耕文化传播整理发布。

本文编号：500118