当前位置:主页 > 科技论文 > 电子信息论文 >

基于嵌入式的晶圆类型测试系统研制

发布时间:2017-07-06 10:29

  本文关键词:基于嵌入式的晶圆类型测试系统研制


  更多相关文章: 导电类型 嵌入式 冷热探针法 测试系统 PID算法


【摘要】:目前,晶圆导电类型测试设备大多为模拟式,可视化程度较低,不便于后续开发,并且功能上局限于对导电类型的区分。针对这一现状研制了一种采用冷热探针法基于32位ARM处理器的晶圆类型测试系统,在测量导电类型的基础之上扩展了不同晶圆温差电流随温差变化规律的测试和在相同条件下区分同种掺杂类型不同掺杂浓度的晶圆两个功能。测试系统硬件主要包括主控模块、温差电流检测模块、热探针温度测控模块、显示模块、电源模块、参考电压模块等几个部分。选用32位ARM处理器STM32F103ZET6作为主控芯片,通过设计相应的外围电路,芯片的内部资源ADC、定时器、PWM等得到了充分利用,有效降低了系统的复杂程度;温差电流检测模块以高精度的仪表放大器INA114为核心器件进行放大电路的设计,经过测试校准后温差电流检测模块的有效检测范围为-130nA至+160nA,并且在-96nA至+117nA之间具有良好的线性;热探针的温度检测部分采用Pt1000热敏电阻作为温度传感器,可测控热探针的内部温度达到了170℃,采用经典的PID算法实现对热探针的温度控制,在设置针尖温度60℃时(内部145℃),可以在五分钟左右达到稳定,稳定后的温度波动在0.5℃以内。软件方面通过模块化方式进行处理,使用C语言进行程序的编写并实现了10.4寸液晶显示屏的控制、触摸屏的输入、内部AD操作、串口通信、温差电流的采集、热探针温度的采集、冷探针温度的采集等功能。在调试好各模块的程序后,通过主程序完成整个测试系统的逻辑功能和对各个子程序的分时调用,整个程序运行稳定。根据系统需求,设计了内热式的热探针并制作了测试仪样机,实现了预期功能,并且运行稳定可靠。测试系统具有实时显示相关曲线、灵活简单的触摸控制、可进行后续开发、数字化等优点,具有较强的实际应用价值。
【关键词】:导电类型 嵌入式 冷热探针法 测试系统 PID算法
【学位授予单位】:哈尔滨理工大学
【学位级别】:硕士
【学位授予年份】:2016
【分类号】:TN307
【目录】:
  • 摘要5-6
  • Abstract6-10
  • 第1章 绪论10-15
  • 1.1 课题研究背景10-11
  • 1.2 半导体材料概述11
  • 1.3 国内外研究现状11-13
  • 1.3.1 晶圆测试技术研究现状11-12
  • 1.3.2 晶圆测试技术主要研究成果12-13
  • 1.4 课题研究的目的及意义13
  • 1.5 主要研究内容13-15
  • 第2章 测试系统工作原理15-21
  • 2.1 塞贝克效应15-16
  • 2.2 导电类型测量方法16-19
  • 2.2.1 冷热探针法16-17
  • 2.2.2 单探针点接触整流法和三探针法17-19
  • 2.3 温差电动势和温差电流19-20
  • 2.4 本章小结20-21
  • 第3章 系统硬件设计21-37
  • 3.1 嵌入式发展背景21
  • 3.2 总体设计21-23
  • 3.2.1 硬件模块划分21-22
  • 3.2.2 微处理器选型22-23
  • 3.3 冷热探笔设计23-24
  • 3.4 温差电流采集电路设计24-29
  • 3.4.1 电流-电压转换电路设计24-25
  • 3.4.2 第一级放大电路设计25-26
  • 3.4.3 第二级放大电路和加法电路设计26-27
  • 3.4.4 低通滤波电路设计27-29
  • 3.5 热探针温度测控电路设计29-31
  • 3.5.1 恒流源电路设计29-30
  • 3.5.2 放大电路和减法电路设计30
  • 3.5.3 加热控制模块电路设计30-31
  • 3.6 串口通信电路设计31-32
  • 3.7 冷探针温度采集电路设计32
  • 3.8 电源电路设计32-34
  • 3.9 印刷电路板设计34-36
  • 3.10 本章小结36-37
  • 第4章 系统软件设计37-43
  • 4.1 软件开发环境介绍37-38
  • 4.2 主程序设计38-39
  • 4.3 各模块程序设计39-42
  • 4.3.1 温度控制程序设计39-40
  • 4.3.2 模数转换程序设计40-41
  • 4.3.3 串口通信程序设计41-42
  • 4.4 本章小结42-43
  • 第5章 调试及测试结果与分析43-54
  • 5.1 温度传感器调试43-45
  • 5.1.1 冷探针温度调试43-44
  • 5.1.2 热探针温度调试44-45
  • 5.2 热探针端点温度与内部温度关系45-47
  • 5.3 温差电流检测电路的调试47-49
  • 5.4 PID参数整定49
  • 5.5 测试系统样机49-51
  • 5.6 标准片测试与分析51-53
  • 5.6.1 温差电流随温差变化的规律51-52
  • 5.6.2 区分同种掺杂类型晶圆52-53
  • 5.7 本章小结53-54
  • 结论54-55
  • 参考文献55-59
  • 攻读硕士学位期间所发表的学术论文59-60
  • 致谢60

【相似文献】

中国期刊全文数据库 前9条

1 励翠云;韦光宇;余庆选;;半导体外延材料导电类型及载流子浓度的简易判定法[J];上海金属.有色分册;1993年03期

2 孟庆印;;复合管和它的输入电阻[J];曲阜师范大学学报(自然科学版);1987年03期

3 齐鸣,罗晋生,白■淳一,山田巧,野崎真次,高桥清,德光永辅,小长井诚;碳掺杂In_xGa_(1-x)As的MOMBE生长与特性[J];半导体学报;1993年07期

4 ;集成电路基体的制造方法[J];仪器仪表通讯;1971年05期

5 辛志君;由透过率测量HgCdTe的导电类型载流子浓度及吸收截面[J];红外研究(A辑);1986年05期

6 张继荣;;DLY-2型P-N导电类型鉴别仪校准方法[J];工业计量;2012年S2期

7 张国强,严荣良,,罗来会,余学峰,任迪远,赵元富,胡浴红;注F CC4007电路的电离辐射效应[J];半导体学报;1996年01期

8 王琨;晏敏;黄会雄;侯志春;李旭;刘滔;;半导体材料电阻率与导电类型测试仪的研制[J];国外电子测量技术;2008年09期

9 ;[J];;年期

中国重要会议论文全文数据库 前1条

1 盖艳琴;姚斌;范希武;;表面水吸附对p型ZnO电学性质影响的第一性原理研究[A];第11届全国发光学学术会议论文摘要集[C];2007年

中国硕士学位论文全文数据库 前6条

1 冯聚萌;基于嵌入式的晶圆类型测试系统研制[D];哈尔滨理工大学;2016年

2 董斌华;热处理条件对CuInS_2薄膜性能的影响[D];内蒙古大学;2012年

3 王杰;铜在氧化锌中的掺杂行为及其对薄膜性能的影响[D];吉林大学;2013年

4 夏中秋;ZnTe及稀土掺杂ZnTe电子结构和电学性质的研究[D];内蒙古大学;2012年

5 李忠贤;稀土掺杂ZnTe纳米薄膜制备及特性研究[D];内蒙古大学;2009年

6 赵兴亮;Mn、Co、Al掺杂SiC薄膜制备及其光敏性质研究[D];天津理工大学;2010年



本文编号:525853

资料下载
论文发表

本文链接:https://www.wllwen.com/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/525853.html


Copyright(c)文论论文网All Rights Reserved | 网站地图 |

版权申明:资料由用户0ff7f***提供,本站仅收录摘要或目录,作者需要删除请E-mail邮箱bigeng88@qq.com