新型无损IGBT短路耐性测试电路

发布时间：2017-07-07 19:11

  本文关键词：新型无损IGBT短路耐性测试电路

  更多相关文章： 绝缘栅双极晶体管(IGBT) 短路测试 失效分析 短路安全工作区 无损测试

【摘要】：为保护绝缘栅双极晶体管(IGBT)测试电路及芯片失效信息,提出了一种新型的无损IGBT短路安全工作区测试电路,可以在器件测试时根据测试电流、电压波形特征,自动识别IGBT是否发生失效。一旦被测器件在测试过程中发生失效,测试电路能够立即自动将电流旁路,保护芯片表面不受二次大电流破坏,进而保护芯片失效信息,为芯片的失效分析提供依据。根据设计搭建了测试保护电路,并进行实验比较。通过分析对比失效IGBT模块及芯片内部结构,发现该新型测试电路能在IGBT失效后,保护被测IGBT芯片不被进一步破坏,为失效分析提供充分依据。
【作者单位】： 株洲南车时代电气股份有限公司;新型功率半导体器件国家重点实验室;
【关键词】： 绝缘栅双极晶体管(IGBT) 短路测试 失效分析 短路安全工作区 无损测试
【分类号】：TN322.8
【正文快照】： 0引言随着工业传动变流器技术的发展,绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)作为变流器模块的核心器件得到了越来越广泛的应用。但随之而来的IGBT应用工况也越来越复杂,环境也越来越恶劣,常常会出现过电流甚至短路现象[1-2]。当IGBT发生短路时,会产生很大

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本文编号：531450