基于部分重配置的FPGA内嵌BRAM测试方法

发布时间：2017-07-29 11:09

  本文关键词：基于部分重配置的FPGA内嵌BRAM测试方法

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【摘要】：对于FPGA的内嵌BRAM资源的测试,传统的方法存在着故障覆盖率不够高,测试配置数目较多,以及测试时间较长的缺点.针对上述问题,本文提出了一种新的利用FPGA内嵌ICAP核进行片内自动部分重配置功能来实现对FPGA内嵌BRAM核的内建自测试方法,且无需额外的外接存储单元.在已有方法的基础上提高了对写破坏故障、读破坏故障、干扰耦合故障、写破坏耦合故障、读破坏耦合故障以及BRAM初始化功能故障的覆盖,改进算法使程序执行周期数降低一半左右,同时将多个算法集成在同一个测试配置里来实现降低测试的完整配置数,从而降低测试时间.测试结果表明,该方法在故障覆盖率上可以达到100%,而且测试配置数可以降低至两个完整配置,其中每个完整配置里包含13个算法的片内自动部分重配置,实测得到总测试时间仅为131.216ms.
【作者单位】： 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室;
【关键词】： 现场可编程门阵列 块随机存储器 内建自测试 部分重配置 ICAP
【分类号】：TN791
【正文快照】： 随着集成电路的发展,现场可编程门阵列(FPGA)在不断扩大可编程逻辑阵列的同时,内嵌的各种可编程知识产权(IP)核的规模也在不断地扩大,使得FPGA的性能越来越强大.因此,如何对FPGA芯片的可编程逻辑阵列及IP核进行完备测试成为一个重要课题.而块随机存储器(Block RAM,BRAM)核作为

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