温度试验对电子元器件的性能影响分析

发布时间：2017-08-08 11:32

  本文关键词：温度试验对电子元器件的性能影响分析

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【摘要】：自改革开放以来,我国的市场经济得到了很大的发展,人们的生活水平也不断地提高,大量的电器设备、智能设备广泛地出现在人们的日常生活当中,随着经济水平的不断提高,人们对电器的要求也越来越高,电子元器件作为电器最主要的组成部分,对电器质量、性能上的要求就是对电子元器件质量、性能的要求。那么该如何检测电子元器件的性能和质量呢?目前我国所采用的是温度试验来对电器的电子元器件进行检验。但是电子元器件在进行温度试验也是会受到温度的影响导致电子元器件的性能受到影响。文章通过分析温度试验的概念以及温度对电子元器件的危害进行分析,并提出了相关的解决措施。
【作者单位】： 中国空空导弹研究院;
【关键词】： 温度试验 电子元器件 性能 影响 措施
【分类号】：TN606
【正文快照】： 1简述温度试验目前,我国有不少的产品的零部件和材料当中都具有电子元器件,这些产品所牵扯到的行业也较多,例如:电子电工、汽车摩托、航天航空、橡胶、金属、船舶兵器、科研单位等,这些单位所生产的相关电子产品的零部件和材料都需要在不同温度的情况下来检验其零部件和材料的

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本文编号：639794