JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究

发布时间：2017-08-15 07:14

  本文关键词：JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究

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【摘要】：本文介绍了加速寿命试验中最为常用的阿伦尼斯模型,并按该模型选择JT54LS273型集成电路变化最大的关键参数,求得元器件在常温贮存时的数学模型,以常温贮存数据作为评价元器件加速贮存寿命的主要依据。选择同型号、同品种的元器件,进行高温加速贮存试验与常温贮存试验数据进行比较,并建立加速贮存试验模型。得出同一型号同一品种器件的高温贮存加速因子、高温贮存试验时间,提前得出器件长期贮存试验数据,以判断器件是否满足储存期要求,并给出试验结论。
【作者单位】： 天水天光半导体有限公司;
【关键词】： 集成电路 阿伦尼斯模型 高温贮存
【分类号】：TN40
【正文快照】： 1概述长期以来,电子元器件经过长期贮存后出现主要参数漂移、材料性能下降等一系列问题,因此高可靠、长寿命元器件的量化评估一直是可靠性工程领域的一个技术难题。通常采用的寿命试验方法不仅需要耗费大量的试验时间、人力和物力,而且经长时间试验后出来的结果可能已经失去了

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本文编号：676870