二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系

发布时间：2017-08-25 04:45

  本文关键词：二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系

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【摘要】：本文在基于二次偏振调制激光测距系统的基础上,对调制频率与激光测距系统精度的关系做了深入的理论推导和实验验证.最终得出结论:相位法激光测距系统的测量精度会随着调制频率的增大而提高,且精度的提高程度正比于调制频率的不确定度?f与测程范围内半波长数N值的比值.并通过选取合适的调制频率来提高系统的测距精度,提高后的测距精度可达10~(-7).
【作者单位】： 天津大学电子信息工程学院;
【关键词】： 激光测距 二次偏振调制 变频测距 调制频率
【基金】：国家自然科学基金(批准号:61427817,61405142) 高等学校博士学科点专项科研基金(批准号:20120032130010)资助的课题~~
【分类号】：O436.3;TN249
【正文快照】： 所携带的相位差信息来实现长度测量,在5 m量程1引言的长度测量中,精度达到0.04 mm,相对精度优于10 5.2009年,Huang等[15]将直接数字频率合成高精度的激光绝对距离测量技术的发展对于应用到多波长连续波测距技术中,实现了3 m测距军事、航空航天、大型科学仪器设备制造、空间科

【参考文献】

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【共引文献】

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【相似文献】

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本文编号：735166