单晶硅各向异性湿法刻蚀的形貌控制
本文关键词:单晶硅各向异性湿法刻蚀的形貌控制
更多相关文章: 单晶硅 湿法刻蚀 形貌控制 三重溶液 表面粗糙度 凸角
【摘要】:针对摆式微加速度计的制作,对利用两种添加剂共同修饰的TMAH刻蚀液的单晶硅湿法刻蚀技术及其相关刻蚀特性进行了研究。分析了两种添加剂之间的作用机理及对单晶硅湿法刻蚀的影响,选择合适的添加剂刻蚀液配比,实现了稳定的刻蚀形貌控制。通过两种添加剂的共同作用,获得了具有光滑刻蚀表面(粗糙度约为1nm)和良好凸角保护(凸角侧蚀比率小于0.8)的刻蚀形貌。实验结果表明,在三重溶液(TMAH+Triton-X-100+IPA)下的刻蚀形貌具有明显优势。最后,基于添加剂对疏水性单晶硅材料的作用机理及表面张力调节,表面活性剂和酒精类添加剂之间的相互作用分析了刻蚀形貌发生变化的原因。以典型悬臂梁-质量块的制作为例,验证了采用该单晶硅刻蚀形貌控制方法可以获得微加速度计光滑的悬臂梁表面和无需凸角补偿的完整质量块。相比于其它制作工艺,该方法简单、易操作,有利于提高微机电器件的性能。
【作者单位】: 南京理工大学电子工程与光电技术学院;中国工程物理研究院电子工程研究所;
【关键词】: 单晶硅 湿法刻蚀 形貌控制 三重溶液 表面粗糙度 凸角
【基金】:国家自然科学基金资助项目(No.51305412) 中国工程物理研究院超精密加工技术重点实验室研究基金资助项目(No.2012CJMZZ00003)
【分类号】:TN305.7
【正文快照】: 1引言在微机电系统工艺中,依据单晶硅的各向异性刻蚀特性所发展起来的湿法刻蚀技术在制作微型器件,特别是惯性器件如加速度计的过程中发挥了巨大作用,内容涉及军事、民用等各个应用领域。与反应离子刻蚀(Reactive-Ion Etching,RIE)等干法刻蚀相比较,湿法刻蚀技术的刻蚀深度均
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,本文编号:761730
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